[实用新型]抗强电场干扰校正仪无效
| 申请号： | 89219437.5 | 申请日： | 1989-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN2061296U | 公开（公告）日： | 1990-08-29 |
| 发明（设计）人： | 陈章龙;蒋德平;何大为 | 申请（专利权）人： | 扬州供电局 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R15/02 |
| 代理公司： | 扬州市专利事务所 | 代理人： | 秦关华 |
| 地址： | 江苏省扬*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电场 干扰 校正 | ||
【权利要求书】：
1、一种供电系统高压设备检测用抗强电场干扰校正仪(2)，与QS1型交流电桥配合使用，采用阻容移相电路，包括：分压电阻RF1和RF2，在移相粗调电阻RY1和微调电阻RY2与移相电容CY之间，接有电压幅值粗调电阻RZ1和微调电阻RZ2，波段开关K2与输出电阻Rr1、Rr2、Rr3、Rr4相接，本实用新型的特征是：倒相开关K1一端与分压电阻RF1和RF2连接，另一端与QS1型交流电桥(1)的低压测试回路E端和Xc端并联。
2、根据权利要求（1）所述的抗强电场干扰校正仪（2），其特征是：分压电阻RF1和RF2阻值相等。
3、根据权利要求（1）所述的抗强电场干扰校正仪（2），其特征是：输出电阻Rr1、Rr2、Rr3、Rr4＞＝100R3。
4、根据权利要求（1）所述的抗强电场干扰校正仪（2），其特征是：移相粗调电阻RY1和微调电阻RY2的阻值比为1：10。
5、根据权利要求（1）所述的抗强电场干扰校正仪（2），其特征是：从QS1型交流电桥（1）的低压测试回路Xc和E间获取电源。
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