[发明专利]测量实体截面图的超声系统

权利要求书

1、一套用于测定具有两个相对表面的物体横断面图的系统包括：

具有一个参考表面的超声波传感器，用于发射和接收通过上述参考面的超声波能量；

厚度检测装置，它与上述传感器相连，可使该传感器通过上述参考面发射超声波能量，并检测被该传感器接收的、通过该参考面的反射超声波能量，由此可以得到参考面与面对该参考面的超声波能量反射面之间的距离；

一个支撑上述传感器的支架；

导向装置，它决定了一条具有一个参考点的直线运动轨迹，并支撑上述支架沿这条运动轨迹运动；

位置测定装置，它可操作地与上述的支架相关联，以获得该支架沿上述运动轨迹相对于上述参考点的位置；

用来将导向装置固定在物体上的装置，它将使直线运动轨迹沿着两相对平面之一延伸；

信号处理装置，它与上述位置测定装置及上述的厚度测量装置相连接，当上述参考面与物体的两相对面之一接触时，与上述支架相对于上述参考点的位置相关，可产生两相对面之间的距离指示；

一个校准块，当所述导向装置固定于物体上时，它由所述固定装置在邻近物体的一个位置承载，所述校准块沿所述运动轨迹布置，以便与所述超声波传感器相配合，校准所述厚度测量装置。

2、由权利要求1所限定的一套系统，其中上述信号处理装置包括图形显示装置，用来显示出平行于运动轨迹的、物体两相对面间的断面。

3、由权利要求1所限定的一套系统，其中上述位置测定装置包括：一个用于发射和接收电磁能量的电磁波传感器;电磁波传播装置，它与上述电磁波传感器相连，用于使电磁波沿直线运动轨迹传播;还有能量反射装置，安装在前述的支架上，并可操作地与上述电磁波传播装置相连系，用来将上述电磁波传感器发射出的能量反射回该波传感器，利用这一点，可知波能量从上述波传感器至该反射装置的传播时间是与上述的支架到参考点之间的距离成正比的。

4、由权利要求3所限定的一套系统，其中上述波传播装置包括一个波导管，而上述的能量反射装置可以产生一个磁场，该磁场对于在这个波导管中传播的能量具有反射作用。

5、由权利要求1所限定的这套系统进而还包括定位装置，它连接在前述的支架和超声波传感器之间，当前述的导向装置固定在物体上时，定位装置使上述的参考面保持与物体的一个表面相平行。

6、根据权利要求5所限定的一套系统，其中，所述的导向装置支撑着支架，并在一定程序上允许该支架绕第一轴线旋转，该轴是沿上述的直线运动轨迹方向延伸的;而所述的定位装置具有一个允许上述超声波传感器绕第二轴线和第三轴线旋转的机构，第二轴线与第一轴线是平行的，而第三轴线是横截第二轴线的。

7、一种使用权利要求1所限定的系统来测定具有两相对表面物体的截面图的方法包括：

将所述的固定装置连接到物体上，以使直线运动轨迹沿平行物体两相对面之一的方向延伸;

在操作所述的厚度测量装置及位置测定装置的同时，沿上述的运动轨迹移动支架，并保持参考面与两相对面之一接触;

操作上述信号处理装置，以沿着上述运动轨迹得到两相对平面间的距离。

8、权利要求7所限定的方法中，其中移动的步骤是手动执行的。

9、权利要求8中所限定的方法中提到的移动步骤包括：每当厚度测量装置显示出两个相对面间的距离有变化时，都要停止移动支架，并且在厚度变化位置处的每一侧测出两相对面间的距离。

10、一种根据权利要求7的方法，其中，操作所述信号处理装置的步骤包括：

当所述传感器邻所述校准块布置时，校准所述厚度测量装置。