[发明专利]对置于近场中的物质所吸收或衍射的光进行精密光谱分析的方法

权利要求书

1、被放置于近场中的透光的和/或反光的物质折射或吸收的光的精确光谱分析方法，所述近场是由第一电磁辐射在传播或反射中产生的，其特征在于这种精确光谱分析是在所述的近场之上和/或与上述的第一电磁辐射同时到达所述物质之上的第二电磁辐射上进行的，所述的分析与所述的近场或与所述的物质发生相互作用的所述的第二电磁辐射的一部分有关。

2、按照权利要求1的精确光谱分析方法，其特征在于该近场通过近场扫描技术用来建立所述物质的几何轮廓和/或光学轮廓，精确光谱分析和所述的显微技术被同时进行。

3、按照权利要求1或2的任何一种精确光谱分析方法，其特征在于光谱分析涉及第一电磁辐射，通过反射或传播产生一个近场，此近场也用来对提供研究的物质进行光学近场扫描显微。

4、按照权利要求3的精确光谱分析方法，其特征在于该近场是一个受抑瞬态场，由于存在光探头（例如在瞬态场中的纤维的一端）该场在传播中产生一个特定的点，该瞬态场是由第一电磁辐射在透光体（如棱镜）的表面内部全反射造成的，提供研究的物质是至少是透光的并放置于上述的表面之上。

5、按照权利要求3的精确光谱分析方法，其特征在于该近场是一种反射引导近场，由放置于反射表面的光导纤维类型的波导的一端发出的第一电磁辐射的反射产生，反射的辐射在返回时被所述的端部捕捉并在所述的波导中再次传播。

6、按照权利要求1或2的任何一种精确光谱分析方法，其特征在于光谱分析涉及一种复合电磁辐射，该辐射直达要被分析的透光的和/或反光的物质之上，同时，由于第一电磁辐射在反射或传播中产一个近场，该近场也用来对所述物进行光学传播或反射扫描显微。

7、按照权利要求6的精确光谱分析方法，其特征在于复合电磁辐射是被引导至被分析的透光的和/或反光的物质之上，以便所述的复合辐射的光谱组分不呈现近场的结构，近场扫描光学显微镜除了提供所述的物质的影像外，被用来作为临界传感器。

8、按照权利要求6的精确光谱分析方法，其特征在于复合电磁辐射被引导至被分析的透光和/或反光的物质之上，以便所述的复合辐射的光谱组分呈现近场的结构。

9、按照权利要求8的精确光谱分析方法，其特征在于光谱分析的复合近场是在传播中通过至少是透光的物质时产生的复合受抑瞬态场。

10、按照权利要求8的精确光谱分析方法，其特征在于用于光谱分析的复合近场是在至少是反光的物质之上反射时产生的引导近场。

11、按照权利要求9或10的任何一种精确光谱分析方法，其特征在于所述物质的近场扫描光学显微通过传播在受抑瞬态场中进行，或通过反射在引导近物场中进行，这取决于提供研究的物质是至少透光的还是反光的。

12、按照前边所述的任何一种权利要求的精确光谱分析方法，其特征在于提供研究的物质的精确光谱分析依靠至少一个放置在波导附近的辅助微探头进行，此微探头为近场显微工作所必须的光导纤维类型并且能够分析不能在所述波导中传播的电磁辐射的部分。

13、近场扫描光学显微镜，其特征在于它利用按照前边的任何一种权利要求的精确光谱分析方法。

14、按照权利要求13的近场扫描光学显微镜，其特征在于它由至少一种传统的受抑瞬态场扫描传播光学显微镜组成。

15、按照权利要求13的近场扫描光学显微镜，其特征在于它由至少一种传统的引导近场扫描反射光学显微镜组成。

16、按照权利要求14的受抑瞬态场扫描光学显微镜，其特征在于它一方面包括一个辐射源4，该辐射源向载有要分析的物质3的透光体1的表面2的下边发射电磁辐射，另一方面包括一个光导纤维的光耦合器，具有：

-一个包括光纤7的输入传播通道，光纤7的一端部被修尖以形成透光尖端6，

-一个连接于光检测器8的第一输出传播通道13a，光检测器8本身连接于计算机10，反馈器件11及毫微米垂直定位装置，如用于控制透光尖端6使其与透光物质3保持固定距离的压电管12。

-通过光学器件16连接到光谱分析器14（如“罗曼光谱仪”Rawan  Spectrometer）的第二输出传播通道，