[实用新型]简易数字集成电路测试器

说明书

本发明涉及一种数字集成电路测试器。

由于通用数字IC（集成电路）的品种繁多，现在的IC测试器产品都是自动式的。如果将自动式的IC测试器大致分为高、中、低三种档次，则对于一般IC使用者而言，这些测试器的问题是：高档的价格昂贵，体积大；低档的性能过低；而中档的价格不低，体积不小，且性能仍有所局限。此外，对于电子设计、维修和教学实验人员而言，自动式IC测试器不便于对IC进行逐步和逐点的测试、干预和分析。早期的手动式IC测试器和现在的数字电路实验箱等，虽可对IC进行逐步和逐点的测试，但操作很麻烦。随着IC的广泛应用，对IC在线测试的要求也逐渐增多，但目前只有一些不适于普及的高级动态在线测试器产品以及一些性能过低的在线测试器产品（如逻辑测试笔、逻辑测试夹和IC比较器等）。

反映已有技术的专利文献如下：

中国的：85203558、86101612、86205229、88211707、80203080、87206369、88211155；日本的：特许公报（A）、昭59－139640；美国的：3670245、3882386、3883801、3946310、4189673、4282633、4348636。

本发明的目的是：提供一种简易数字IC测试器，它虽是手动式的测试器，但操作简便直观，不仅能离线测试数字IC，还能在线测试数字IC，而且体积不大，成本不高。在这种数字IC测试器上增设极少量元件，还能离线测试运算放大器和电压比较器等常用线性集成电路。

本发明的原理、结构和实施例用以下附图表示：

图1——操作面板结构

图2——电源电路

图3——电平检测和电平输入电路

图4——数码显示电路

图5——测试阈值选择电路

图6——比较电压和偏置电压控制电路

图7——脉冲发生器电路

图8——兼有比较功能的电平检测和电平输入电路

看图1：

在本发明的测试器1的操作面板2上，有两排发光二极管显示灯LD1～24。在显示灯的外侧，有两排与显示灯一一对准的电平开关KA1～24。在电平开关的外侧，有两排与电平开关一一对准的集成电路（IC）脚测试孔JIC1～24。有一个20脚的IC插座SIC1和一个24脚的IC插座SIC2，IC插座装在两排显示灯、两排电平开关和两排脚测试孔的外侧。IC插座的脚与JIC1～24一一对应的接通。在两排显示灯、两排电平开关和两排脚测试孔之间，有一个可放置（但不是必须放置）一张IC图片3的区域。如现在该区域上放置了一张TTLIC－SN7400的图片，在放好的IC图片上所绘制的两排IC脚是可与显示灯、电平开关和脚测试孔一一对准的（不仅仅是与显示灯一一对准）。在面板2上，还有电源开关KS、电源方式选择开关KSM、测试方式选择开关KIS、阈值标准选择开关KTC、上拉电阻开关KRU、脉冲方式选择开关KPM、脉冲速度选择开关KPF、阈值和偏压选择开关KTB、阈值电平选择开关KVT、偏压电平选择开关KVB、数码显示方式选择开关KDS、模拟量输出调节旋钮（电位器）W1、W2、线路电源输入插孔JVBG、辅助电源输入插孔JVAG、测试电源（＋5V）输出插孔JVC、测试电源（OV）输出插孔JTG、辅助逻辑脉冲测试输入插孔JLTP、辅助逻辑脉冲显示灯LDP、模拟电压输出插孔JW1、JW2、脉冲输出插孔JPSO和一组16进制七段数码译码显示器DS201～203。

应说明：与每个IC脚所对应的显示灯、电平开关和脚测试孔，即使三者的内外位置对调，仍未脱离本发明的特征。此外，单独看所有的显示灯、电平开关或脚测试孔，它们都是分别按IC的双排引脚的顺序和相对位置排列的。

操作显示面板上所有插孔与插孔之间的连接是用跨接线跨接的，跨接线的两端可装有插头，即为插头跨接线。用这种JIC1～24和插头跨接线可使电源、时钟等与IC脚能直观地连接，即在使用本仪器时，可以通过插头跨接线：（1）将电源正端（JVC）和地端（JTG）与任两个脚测试孔相连，以向被侧IC供电；（2）将JLTP与任一脚测试孔相连，以测试IC脚的动态情况；（3）将JPSO与任一脚测试相连，以向IC脚注入脉冲。

通过图1可说明本发明的测试器的使用方法：

离线测试数字IC时，将IC插入SIC1中，操作KA1～24（置于M、H、L分别为不送信号，送“1”信号、送“0”信号），并根据LDA1～24的显示是否符合IC的真值表来判断IC的好坏。