[发明专利]磁光电流角度比较方法及其装置无效

专利信息
申请号: 91100372.X 申请日: 1991-01-18
公开(公告)号: CN1026359C 公开(公告)日: 1994-10-26
发明(设计)人: 张志鹏 申请(专利权)人: 华中理工大学
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00;G01R15/07;G01R33/032
代理公司: 华中理工大学专利事务所 代理人: 骆如碧,朱雪忠
地址: 430000 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 电流 角度 比较 方法 及其 装置
【权利要求书】:

1、一种磁光电流角度比较方法,它利用比较绕组(9)中的电流跟踪被测电流,使比较绕组电流磁场产生的偏振面旋转角θ与被测电流磁场产生的偏振面旋转角θ方向相反,大小相等形成零磁通时被测电流值为比较绕组的安匝数即i=WI,式中I为每匝线圈的电流,W为比较绕组的匝数,为此,本方法的具体措施为采用开口铁芯,在开口处的空气间隙中设置探头(8),(8)的形状视应用场合而定,可采用圆形、正方形或长方形,探头(8)的入射端直接偶合或通过光纤(3)与光源(2)联接,出射端直接偶合或通过光纤(10)与探测器(11)、(12)联接,检偏器(18)采用OE双输棱镜,探测器(11)、(12)各自检测的是来自检偏器(18)的相互正交的OE光束,使O光E光的光强相等,在探测器(11)、(12)中一个带有功率放大器(13),只需简单调节就能获得二光束相等,根据马吕斯定律,从检偏器(18)出来的光强I=Iocos2θ,式中Io为起偏器(15)出射光强,I为偏振面旋转θ角后检偏器(18)的出射光强,测量过程采用信号处理电路(13)或微机系统控制可控电流源(6)即可控制比较绕组(9)的电流,控制比较绕组电流值及由它产生的偏振面旋转角θ比,跟踪并抵消被测电流产生的偏振面旋转角θ被,当比较绕组的安匝数与被测电流值相等时,光强出现零值,即θ与cos2θ特性曲线最低值相对应的θ值。

2、根据权利要求1所述方法进行磁光电流角度比较的比较仪,它由铁芯、比较绕组、可控电流源、信号处理系统等部分组成,其特征为所述铁芯为开口铁芯(4),开口处设置探头(8),探头(8)由聚焦镜(14)、(17)OE双输棱镜(15)、(18)及敏感元件(16)组成,入射端通过光纤(3)与光源2联接,出射端通过光纤(10)与探测器(11)、(12)联接。

3、根据权利要求2所述的比较仪,其特征为它设有磁分路器(7)。

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