[发明专利]纱线质量评定方法及实现该方法的装置无效
申请号: | 91100550.1 | 申请日: | 1991-01-26 |
公开(公告)号: | CN1053649A | 公开(公告)日: | 1991-08-07 |
发明(设计)人: | 彼得·F·阿尔默 | 申请(专利权)人: | 泽韦格·乌斯特有限公司 |
主分类号: | D01H13/32 | 分类号: | D01H13/32;D06H3/00;D02J7/00;G06F15/46 |
代理公司: | 中国专利代理有限公司 | 代理人: | 郭伟刚,吴增勇 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 纱线 质量 评定 方法 实现 装置 | ||
1、为建立清纱系统的除杂极限起见,通过测定纱疵和它们的分极及计数,进行纱线质量评定的方法,其特征在于与相对于清纱器干涉数(2)设定各参数,基准长度(x)和敏感度(y),而且,用这种方法,建立一种清纱轮廓(RP),该轮廓代表所述设定参数理论上所有可能的组合数与清纱器干涉之间的函数关系,同时该轮廓展现预期用于设定参数任何所希望的组合的清纱器干涉数。
2、按照权利要求1的方法,其特征在于将基准长度(x)、敏感度(y)和清纱器干涉数(Z)各自标绘在三维、最好是直角卡笛儿坐标系的一个轴上,因而通过由正坐标半轴限定的表面构成清纱轮廓(RP)。
3、按照权利要求2的方法,其特征在于借助用以测定清纱轮廓(RP)的测量建立单独的基础值,并根据这些基础值通过内插法计算出用于图示所需要的中间值。
4、按照权利要求3的方法,其特征在于通过某一给定设定参数对的全部基础值的同步虚拟除杂,借助于对清纱轮廓(RP)基础值测量进行确定,将纱线信号与若干分级极限加以比较,每次超过分级极限的情况触发一次虚拟清纱器干涉的自动记录,而且每一分级极限都对应于某一基础值。
5、按照权利要求4的方法,其特征在于以三维图象形式产生清纱轮廓(RP)的图解说明。
6、按照权利要求4的方法,其特征在于清纱轮廓的图解说明产生两维的作为代码标准的投影。
7、按照权利要求6的方法,其特征在于将清纱轮廓作为包含若干方形表格加以图解说明,在该表的独立方格中标绘各基础值。
8、按照权利要求6的方法,其特征在于按在所有情况下具有相等除杂频率的曲线形式表示清纱轮廓。
9、按照权利要求1至8之一的方法,其特征在于将纱疵长度和(或)在截面方面的变化作为用于设定清纱轮廓(RP)的参数。
10、按照权利要求1至8之一的方法,其特征在于将这些通常不予除杂的常见纱疵,即所谓的疵点用于纱线的质量评定。
11、执行按照权利要求1的方法的装置,它具有用以扫描待评定纱线截面的测量头,有一控制装置以及连接测量头的测定单元,其特征在于该控制装置(3)包含一处理器装置(4),其中,将由测量头(1)输入并经测定单元(2)预处理的纱线信号收集、数字化后存储在存储区内,并对存储在存储区内的纱线信号进行处理,而且,对大量设定参数数值对进行处理期间发生虚拟除杂,在该虚拟除杂中,将纱线信号与许多不同的分级极限进行比较,在每次超越分级极限的情况下,触发虚拟清纱器干涉的自动记录。
12、按照权利要求11的装置,其特征在于该分级极限构成用于清纱轮廓(RP)的各基础值,在连接到控制设备(3)的的显示屏(5)上以三维图象形式出现。
13、按照权利要求12的装置,其特征在于按这种方式产生对虚拟除杂是决定性的设定参数数值对的选择,使这些数值对以其基础值的密度靠近坐标系原点为高并随距离增大而减小的方式停留于由基准长度(x)轴和敏感性(y)轴限定的直角坐标系的有利区域之内。
14、按照权利要求13的装置,其特征在于将清纱器干涉数标绘在坐标系的第三轴(Z)上,并按照某一线性、对数或接近对数标度来校准坐标系的一个或多个轴线。
15、按照权利要求14的装置,其特征在于在显示屏(5)上光标的添加,该光标可在坐标系的x-y轴平面上加以移动,并借助显示对应于光标各坐标的值、而该值作为这些坐标通过该清纱轮廓(RP)的交叉点上引出垂直线的贯穿点,就可作为预期清纱器干涉数的具体说明。
16、按照权利要求15的装置,其特征在于相应贯穿点的值的说明出现在文字形式的表格内,最好在电文条中。
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