[发明专利]测距法和测距仪

权利要求书

1、一种测距法，其特征在于，它包括下列步骤：

产生波型彼此相等但频率彼此不同的第一和第二伪随机信号；

通过将所述第一和第二伪随机信号彼此相乘而产生第一时间系列模式；

用所述第一伪随机信号调制激光强度之后令激光照射到目标上；

从所述目标作为接收信号收到所述反射光之后将反射光强度的变化变换成电信号；

将所述电信号与所述第二伪随机信号相乘以产生第二时间系列模式；和

计算所述第一与第二时间系列模式之间的时差，由此测定出至所述目标的距离。

2、一种测距仪，包括：

第一伪随机信号发生装置;

第二伪随机信号发生装置，该第二伪随机信号的波型与所述第一伪随机信号的相等但频率略不同于所述第一伪随机信号;

第一乘法器，用以将所述第一伪随机信号与所述第二伪随机信号相乘，从而产生第一时间系列模式;

激光发生装置，用以产生激光;

调制装置，用以用所述第一伪随机信号调制所述激光的强度;

光发射装置，用以将所述调制装置的输出传送到一目标上;

光探测装置，用以接收来自所述目标的反射光，并用以将所述反射光变换成电信号;

第二乘法器，用以将所述电信号与所述第二伪随机信号相乘;和

时差测定装置，用以测定所述第一时间系列模式与所述第二时间系列模式之间的时差。

3、根据权利要求2所述的测距仪，其特征在于，用半导体激光器作为所述激光发生装置和所述调制装置。

4、根据权利要求2所述的测距仪，其特征在于，所述激光发生装置包括一激光源、一高频发生器和一声光调制元件，该声光调制元件加有所述激光源的输出激光，并为所述高频发生器的输出所驱动，其中所述光探测装置包括一分流装置，用以将所述激光源的一部分激光分流;一光探测元件，用以将所述分流装置的输出光与来自所述目标的反射光混合，以便进行外差探测，从而输出作为所述电信号的探测结果。

5、根据权利要求2所述的测距仪，其特征在于，所述时差测定装置包括供以所述第一乘法器输出的第一低通滤波器、供以所述第二乘法器输出的第二低通滤波器，和时间间隔测定装置，该装置用以测定所述第一低通滤波器的输出信号达最大值的时刻与所述第二低通滤波器的输出信号达最大值的时刻两者之间的时间间隔。

6、根据权利要求2所述的测距仪，其特征在于，它还包括一双向测定装置，用以测定激光发射方向和测定激光探测过程，从而确定所述目标的立体形状。

7、根据权利要求2所述的测距仪，其特征在于，所述第一和第二伪随机信号的装置各包括一计数器，用以对时钟信号进行计数，并用以输出其计数值;一存储装置，所存储的数据即根据所述计数器的计数值作为所述存储装置的地址而从存储装置中读出的;和一信号变换器，用以将所读出的存储数据变换成三值信号;

所述光探测装置能与所述伪随机信号的周期同步地瞬时改变光信号的接收灵敏度。