[发明专利]自动校正相控阵天线的方法和设备无效

专利信息
申请号: 91102393.3 申请日: 1991-04-13
公开(公告)号: CN1020831C 公开(公告)日: 1993-05-19
发明(设计)人: 比德·库尔茨 申请(专利权)人: 阿尔卡塔尔劳伦茨标准电器股份公司
主分类号: H01Q3/34 分类号: H01Q3/34;G01S1/08
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人: 邹光新
地址: 联邦德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 自动 校正 相控阵 天线 方法 设备
【权利要求书】:

1、一种迭代法,用来校正一个由移相器控制的阵列天线,具体地说这种天线可用于微波着陆系统(MLS),其中相应于阵列天线的远场的第一信号是由集成波导取得的,而对其中相应天线的口径照射的第二信号进行积分变换,其特征在于:

将第二信号与贮存在存贮装置的第三信号进行比较,及产生一个相应于第二信号对第三信号偏差的差信号,并将此差信号送到控制器,而控制器的输出则作用于阵列天线相连的移相器上。

2、如权利要求1所述的方法,其特征在于:

第一、第二和第三信号均是离散信号。

3、如权利要求1或2所述的方法,其特征在于:

口径照射是通过付氏变换(FFT)求取的。

4、如权利要求2所述的方法,其特征在于:

控制器是一个微处理机。

5、如权利要求2所述的方法,其特征在于:

控制器是一个个人计算机(PC)。

6、用于校正由多个辐射元组成的相控阵天线的设备,具体地说用于微波着陆系统(MLS)的设备,所述辐射元通过电控制移相器相加有射频能量,上述设备包括一个集成波导和使用付氏变换方法将集成波导的输出信号转变成为阵列天线的口径照射的第一装置,其特征在于还包括:

用于存储要求的口径照射存储装置,用来对要求的口径照射与阵列天线的口径照射进行比较的比较装置,及用来根据在要求的口径照射与天线的口径照射间的偏差对各电子移相器施加影响的控制装置。

7、如权利要求6所述的设备,其特征在于:

所述控制装置和比较装置是由微处理机实现的。

8、如权利要求6所述的设备,其特征在于:

控制和比较装置是由个人计算机实现的。

9、用对来自一个集成监测波导(10)的复时变信号进行付氏变换来求取一相控阵天线的复口径照射的方法,其特征在于采用下列步骤:

1.零差检测集成监测波导输出信号的实部;

2.通过希尔伯特变换计算上述同一信号的虚部。

10、如权利要求9所述的方法,其特征在于采用离散希尔伯特变换。

11、如权利要求6或10所述的方法,其特征在于采用离散付氏变换。

12、用于求取一个相控阵天线的复口径照射的设备,包括一个集成监测波导(10),波导(10)的输出提供一个相应于天线辐射方向图的复第一信号,一个以载频f0激励相控阵天线的射频信号源(33),一个将射频能量分配给辐射元的网络(14),用于将第一信号与第二信号相乘的装置,及一个置于相乘装置之后的低通滤波器,其特征在于:

第二信号的频率为f0

13、如权利要求12所述的设备,其特征在于:

在低通滤波器之后模拟一数字转换器(45)将低通滤波器的输出信号数字化。

14、如权利要求12或13所述的设备,其特征在于:

在模拟一数字转换器之后的信号处理机(46)对模拟一数字转换器的输出信号实行希尔伯特变换。

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