[发明专利]圆度的检测方法及圆度仪无效

专利信息
申请号: 91104355.1 申请日: 1991-07-09
公开(公告)号: CN1024086C 公开(公告)日: 1994-03-23
发明(设计)人: 刘伯黎 申请(专利权)人: 首都机械厂
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20
代理公司: 航空航天工业部航天专利事务所 代理人: 成金玉
地址: 北京市34*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 检测 方法 圆度仪
【权利要求书】:

1、一种圆度的检测方法,在转动轴系上同轴嵌入高精度的标准圆样件,其特征在于:对产生的误差予以分离,分别进行消除或抑制,其中,

a.径向圆跳动产生的误差在平面直角坐标系上分解为x,y方向的值,用两个同在x方向的探测头同时对同轴放置的标准圆样件、被测件进行测定,对测量的值用和差演算消除x方向的值;限定被测件及标准圆样件的最小半径远远大于径向圆跳动值,从而抑制y方向的值;

b.限定被测件的半径远远大于工作台端跳动值,可抑制工作台端跳动产生误差。

2、一种为使用如权利要求1所述的方法而专门设计的圆度仪,其特征在于:密珠轴承系(1)由主轴、轴套以及密集于二者之间并具有过盈配合的滚珠组成,该轴系同轴嵌有标准圆样件(2)并与工作台(3)相连,工作台(3)上有调平工作台(3)的调平螺钉(8)和调整工作台(3)中心线与旋转轴系(1)中心线重合的调中心螺钉(7),位于同一方向的测量标准圆样件(2)的探测头(4)以及测量被测件P的探测头(5)分别与测量杆(11)、立柱(9)相连,可在立柱(10)上滑动的升降臂(12)与测量杆(11)相连,限定被测件P及标准圆样件(2)的最小半径远大于径向圆跳动值,限定被测件P的半径远大于工作台端跳动值。

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