[发明专利]一种发射率现场测量的方法

权利要求书

1、一种发射率现场测量的方法，其中包括：

1.1、将主动光源置于距被测物/参考板表面的一定距离上，把辐射计放置在能接收到被反射的主动光源辐射的位置上，并固定主动光源与辐射计、被测物/参考板三者之间的相对位置；

1.2、主动光源产生一束辐射波长为λ的辐射，入射到被测物表面上，辐射计接收被反射的主动光源辐射，这时辐射计输出为V；

1.3、用参考板在同一位置代替被测物，这时辐射计输出为V_s；

1.4、计算被测物的发射率，因为

V/V_s=ρ_d/ρ_de=(1-ε_d)/(1-ε_de)，

则被测物体的发射率为：

δ_d=1-(V/V₈)(1-ε_d8)

式中，ρ_d为被测物体的反射率，ρ_d6为参考板的反射率，ε_d为被测物体的发射率，ε_d8为参考板的发射率；

其特征在于：

1.5、对主动光源辐射进行调制，并给出同步信号；

1.6、同步信号用于相敏检波，使辐射计只响应被反射的调制辐射。