[发明专利]互补光束波面检测仪无效
申请号: | 91107496.1 | 申请日: | 1991-09-25 |
公开(公告)号: | CN1030543C | 公开(公告)日: | 1995-12-20 |
发明(设计)人: | 钱秋明;赵建明;杨少辰;王之江;赵新宇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G02B27/10 |
代理公司: | 上海华东专利事务所 | 代理人: | 李兰英,张泽纯 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 互补 光束 检测 | ||
1、一种互补光束波面检测仪,包括从一光源发射的光束,经一分光镜(11)分成两束光,一束光作为监视光束经一透镜L3(10)被光电探测器D3(12)接收;另一束光作为测量光束通过一会聚透镜L2(9),到光电探测D1(2),光电探测器D1(2)的输出一种连接到相加电路(5)经放大电路A2(6)到显示系统(13),另一路连接到差分电路(3)经放大电路A1(4)到显示系统(13),其特征在于在测量光束的光路上,经会聚透镜L2(9)会聚再发射后,与光电探测器D1(2)之间置有一由一条闭合曲线为交界线(16)分成全透射光区(14)和全反射光区(15)的光束分割元件(1),光束分割元件(1)将测量光束分割成两束光,一束光是由光束分割元件(1)中全透射光区(14)透射的光束进入光电探测器D1(2)中,另一束是由光束分割元件(1)中全反射光区(15)反射的光束经会聚透镜L1(8)进入光电探测器D2(7)中,光电探测器D2(7)的输出与光电探测器D1(2)的输出同时连接到相加电路(5)和差分电路(3)上。
2、根据权利要求1所述的一种互补光束波面检测仪,其特征在于光束分割元件(1)将光束分割成透射光束和反射光束,这两束光在初始静态时,两光束的光通量相等;在动态过程中,两光束的光通量为互补的。
3、根据权利要求1或2所述的一种互补光束波面检测仪,其特征在于光束分割元件(1)上全透射光区(14)与全反射光区(15)之间的交界线(16)是椭圆形闭合曲线,或者是长方形闭合曲线,或者是菱形闭合曲线。
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