[发明专利]信息面的光学扫描装置

权利要求书

1.一种用于扫描可反射光辐射的带迹线的信息面的光扫描装置，该装置包括下述各部分：一个发出扫描光束的光辐射源；一个用于将扫描光束聚焦到信息面上的一个扫描点、并将该扫描点再成象于光敏检测系统上以产生一个信息信号的物镜系统；一个设置在光辐射源和物镜系统之间的光路中的跟踪光栅，用以形成两束跟踪光束，该两束跟踪光束可由物镜系统聚焦在该信息面的跟踪点上，所述两个跟踪点再成象于两个跟踪检测器上以产生一跟踪误差信号，本装置的特征在于该跟踪光栅包括位于一个平面而处于该扫描光束两侧的两个部分，这两部分光栅接收来自辐射光源的光束边缘部分。

2.如权利要求1所述的装置，特征在于被信息面反射的部分扫描光束被一主光栅折射向所述检测系统，该主光栅设置在该辐射光源和该物镜系统之间的扫描光束光路中，该主光栅的平面平行于跟踪光栅的平面。

3.如权利要求2所述的装置，特征在于该主光栅和该跟踪光栅位于同一平面上。

4.如权利要求1或2所述的装置，其特征在于，跟踪光束是辐射光源被跟踪光栅衍射的正一级和负一级衍射光束的边缘部分。

5.如权利要求1或2所述的装置，其特征在于，该跟踪光栅设置在被信息面反射的跟踪光束的光路中。

6.如权利要求2所述的装置，其特征在于，主光栅将反射扫描光束折射向跟踪检测器上。

7.如权利要求6所述的装置，特征在于具有一个辅助检测系统，该两个检测系统分别截获了反射扫描光束的正一级和负一级衍射的光束部分。

8.如权利要求6或7所述的装置，特征在于至少一个检测系统是与一个跟踪检测器集成于一个基体上的。

9.如权利要求5所述的装置，特征在于该主光栅将反射扫描光束折射向与迹线方向垂直的方向上。

10.如权利要求2所述的装置，其特征在于，该主光栅也设置在该反射跟踪光束的光路中。

11.如权利要求10所述的装置，特征在于该主光栅将该反射扫描光束和跟踪光束折射向与迹线方向垂直的方向上。

12.如权利要求11所述的装置，特征在于该检测系统和所述两跟踪检测器集成于一个基体上。

13.如权利要求7所述的装置，适用于藉磁光效应读出信息面，特征在于在每个检测系统前面，在反射扫描光束的光路中设置一线性偏振器，这两个偏振器是互相垂直定位的。

14.如权利要求2、3、6、7、9、10或11所述的装置，特征在于该主光栅由两部分组成，用以形成两个聚焦检测光束，该检测系统由两个光敏检测器组成，各用于检测所述两光束之一。

15.如权利要求2、3、6、7、9、10或11所述的装置，特征在于该主光栅使折射光束产生象散，且该检测系统由一光敏四象限检测器组成。