[发明专利]荧光测定设备

权利要求书

1、一种荧光测定设备，用以在用激发光照射样品时记录从样品发射出来的荧光的光谱曲线，其特征在于，该荧光测定设备包括：

一个存储器，用以存储光谱曲线的数据；

一个记录器，用以记录光谱曲线；和

满标调定装置，用以

a)检测对应于光谱曲线各谱峰的数据；

b)检测谱峰数据的最大值，不考虑因样品的荧光以外的一个或多个原因而引起的一个或多个谱峰；并

c)用所检测出的最大值调定记录器的满标。

2、一种荧光测定设备，用以在用激发光照射样品时记录从样品发射出来的荧光的光谱曲线，其特征在于，该荧光测定设备包括：

一个存储器，用以存储光谱曲线的数据;

一个记录器，用以记录光谱曲线;和

满标调定装置，用以

a）检测对应于光谱曲线各谱峰的数据;

b）消除对应于因样品的荧光以外的一个或多个原因所引起的一个或多个谱峰的数据;

c）检测其余谱峰数据的最大值;并

d）用所检测出的最大值调定记录器的满标。

3、如权利要求2所述的荧光测定设备，其特征在于，所述满标调定装置借助于波长与激发光相同的雷利散射光消除对应于该谱峰的数据。

4、如权利要求3所述的荧光测定设备，其特征在于，所述满标调定装置还消除对应于雷利散射光的衍射峰的数据。

5、如权利要求4所述的荧光测定设备，其特征在于，所述荧光测定设备在激发光谱测定方式下工作，即，改变照射到样品上的激发光的波长，然后测定样品发射出的固定波长荧光的强度，以绘制光谱曲线，其中有衍射出现在光谱曲线中等于激发波长整数倍的诸波长处。

6、如权利要求4所述的荧光测定设备，其特征在于，所述荧光测定设备以发射光谱测定方式工作，即，将固定波长的单色激发光照射到样品上，然后测定从样品发射出来的荧光的光谱曲线，其中有衍射出现在光谱曲线中等于激发光波长整数倍的波长处。

7、如权利要求4所述的荧光测定设备，其特征在于，所述满标调定装置还消除对应于因激发光的波长变化时出现在光谱曲线中距激发光等距离处的拉曼效应所产生的光所引起的谱峰的数据。

8、一种荧光测定设备，用以在用激发光照射样品时记录从样品发射出来的荧光的光谱曲线，其特征在于，该荧光测定设备包括：

一个存储器，用以存储光谱曲线的数据;

一个记录器，用以记录光谱曲线;和

满标调定装置，用以

a）检测光谱曲线因样品的荧光以外的一个或多个原因引起的一个或多个谱峰;

b）给存储器中介于每一个所检测的谱峰与两侧的最近局部最小值之间的数据打标志;

c）检测未打标志数据的最大值;和

d）用检测出的最大值调定记录器的满标。

9、如权利要求8所述的荧光测定设备，其特征在于，所述满标调定装置借助于波长与激发光的相同的雷利散射光检测诸谱峰。

10、如权利要求9所述的荧光测定设备，其特征在于，所述满标调定装置还检测雷利散射光的衍射峰。

11、如权利要求10所述的荧光测定设备，其特征在于，该荧光测定设备在激发光谱测定方式下工作，即，改变照射到样品上的激发光的波长，然后测定从样品发射的固定波长荧光的强度相应的变化，以绘制光谱曲线，其中有衍射出现在光谱曲线中等于激发光波长整数倍的波长处。

12、如权利要求10所述的荧光测定设备，其特征在于，该荧光测定设备以发射光谱测定方式工作，即，将波长固定的单色激发光照射到样品上，然后测定从样品发射出来的荧光的光谱曲线，其中有衍射出现在光谱曲线中等于激发光波长的整数倍的波长处。

13、如权利要求10所述的荧光测定设备，其特征在于，所述满标调定装置还检测因激发光的波长变化时出现在光谱曲线距激发光等距离处的拉曼效应所产生的光而引起的谱峰。