[发明专利]制备控制溶(蚀)解释药小丸的新方法在审
申请号: | 91112677.5 | 申请日: | 1991-12-29 |
公开(公告)号: | CN1073860A | 公开(公告)日: | 1993-07-07 |
发明(设计)人: | 朱盛山 | 申请(专利权)人: | 朱盛山 |
主分类号: | A61K9/22 | 分类号: | A61K9/22 |
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地址: | 333000 江*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制备 控制 解释 药小丸 新方法 | ||
发明所属领域:本发明是在药物制剂加工过程中,通过改变制剂剂型(小丸)中的药物浓度分布或基质(辅料)分布,达到控制小丸释药恒速的新方法。
现有技术说明:制备控释剂型目前使用的方法有(1)利用膜扩散控释;(2)利用渗透压控释;(3)采用异型制剂等。这些控释方法均有其特点:方法(1)、(2)分别属于膜扩散控释和渗透压控释性给药体系,起控释作用的(1)为透性膜,(2)为半透膜、释药孔和渗透活性物质,释药完毕均有惰性膜残留;(给)释药过程中,膜还有可能破裂,爆破性释药引起毒副作用。方法(3)属控制溶(蚀)解性释药体系,制备工艺复杂,给药不方便,且不能实现平稳释药。
本发明的目的旨在克服现有控速释药方法的缺点,通过改变小药丸的药物浓度分布或基质分布,使其释药符合零级过程,给入机体后,能在较长时间内维持有较平稳的血药浓度。
内容说明:本发明是通过改变现有小丸中药物浓度和基质的均匀态分布,药物浓度由丸药表面向丸心逐渐增大,药物浓度分布符合C=C0(R0/R)2(C0为丸药表面药物浓度,R0为丸药原始半径,C为任意半径(R)时表面的药物浓度);或者使基质溶(蚀)解速度逐渐加快,以保持单位时间丸药体积缩小(dv/dt)相等即dv/dt=KV(KV为常数)。从而达到单位时间释药量(dQ/dt)相等,即dQ/dt=K(K为常数)。方法:泛制法,将按规律变化的配方编制程序,以计算机控制投料,起模泛丸。在改变药物浓度分布的小丸中,当丸药半径R→U时,药物浓度C→∞,不切合药物制剂实际、须先制备空白丸心,半径约等于1/3R。。
应用本发明制备的控制溶(蚀)解小丸:(1)可控速释药;(2)释药完毕不残留惰性物质;(3)较膜扩散性和渗透压性用药安全。
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