[实用新型]一种雾化装置

说明书

本实用新型是一种用于电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP－AES）仪的样品雾化装置，属于分析测试技术。

在采用ICP－AES法分析测定样品中的元素时，需将样品制备成溶液，经雾化装置雾化送入高温炬管激发，然后进行光谱测定。

文献［The  Analyst，108（1283），160，1963及The  Analyst，110（5），559，1985］报导的雾化装置都是采用将雾化器固定熔接到雾室内。其缺点在于分析测定时，样品溶液在雾室“内循环”，熔接后的雾化器由于受热不均匀，使雾化器喷口处毛细管位置易改变，从而降低了雾化效率，影响测定的灵敏度及稳定性；由于雾化装置属内循环式不能调节溶液的提升量；又由于雾化器熔接固定于雾室，不能拆卸，雾化装置一旦发生堵塞，不易清除；使用小漏斗或破璃截门来加入样品溶液，造成溶液附着损失，且易带来样品间的沾污，影响测定结果的准确性。故常规使用的雾化装置，雾化效率低，样品溶液消耗量大，雾化时每分钟消耗样品溶液1－3ml，不适于微量样品的分析。

本实用新型的目的是提供一种具有性能稳定且雾化效率高，样品溶液的提升量可以调节，溶液的消耗量低，保持测定结果有良好的重现性的半自动外循环式雾化装置。

为了达到上述目的，本实用新型采用将雾化器通过硅橡胶管接入雾室的下端，而不是熔接，在雾室的下端开一通路与限流管连接并通到雾化器，使雾室与雾化器之间形成一个外循环系统，可将雾室中未雾化或凝聚的大颗粒样品溶液重新回到雾化器再进行雾化，提高溶液的雾化效率，同时也可通过限流管来调节溶液的提升量，以达到最佳的测定条件。雾化器由雾室下端插入还便于拆卸清洗消除雾化器堵塞现象。样品溶液的加入及雾室的清洗分别采用一次性使用的塑料加样管及固定的清洗管，可避免样品间的沾污。样品测定、清洗和干燥雾室采用一个手动控制阀进行连续自动控制。该雾化装置用破璃吹制而成。

附图1雾化装置示意图

下面结合附图1对本实用新型作进一步的详细说明。

将加样管1插入雾室进样口5，加入样品溶液0.5－1毫升，将手动控制阀10处于关的状态，载气由载气进入管13进入，通过水蒸汽饱和器16进入雾化器入口14，这时溶液被雾化器3雾化，并通过撞击球7进一步在雾室4内被破碎变成极细的雾，然后通过管路9进入ICP－AES炬管，开始进行测定。未被雾化的溶液通过外管路6及限流管15到雾化器3进一步被雾化。当测定结束后，把加样管1拔出，打开手动控制阀10，载气从载气进入管13进入，通过控制阀10分成两路，一路经过管路9进入炬管作为等离子体的维持气；另一路通过气动阀8压住由雾室过来的气流，这时就可开始清洗阶段，用洗涤管2吸入丙酮注入雾室，并插上，这时雾室内形成负压，把单向阀11顶开，洗涤液通过排液管12排出，如此反复数次。废液排完后即开始雾室4的干燥，几分钟后就可重复上述操作进行第二个样品的测定。限流管15与外管路6和雾室相通，构成外循环系统，可以通过更换限流管尺寸的大小达到调节溶液提升量的目的。使用本实用新型，0.5毫升溶液可以连续喷雾5分钟，与一般的雾化装置相比较（喷雾一分钟消耗溶液1－3毫升），试样溶液的利用率提高了10－30倍，对于小体积的微量溶液也可以进行测定。

附图说明：1－加样器；2－洗涤管；3－雾化器；4－雾室；5－雾室进样口；6－外循环管路；7－撞击球；8－气动阀；9－通过炬管的管路；10－手动控制阀；11－单向阀；12－排液管；13－载气进入管；14－雾化器入口；15－限流管；16－水蒸汽饱和管。

本实用新型与现有技术相比具有如下优点：

（1）由于采用雾室与雾化器采用外循环系统，提高了样品溶液的雾化效率比现有技术提高了10－30倍；

（2）便于拆卸清洗，消除雾化器堵塞现象；

（3）可避免测试样品之间的沾污，提高的分析测试的准确性；

（4）样品测定、清洗和干燥雾室可连续自动控制。

实施例：下表为利用本雾化装置进行ICP－AES连续测定含10ppm的Sr，Zn，Cu，Ba，Ni，Co，Mn，Cr等8个元素的样品得到的数据，测定的精度均在3％以下。说明了雾化装置具有良好的稳定性及准确性。

元  素    Sr    Zn    Cu    Ba    Co    Ni    Mn    Cr