[发明专利]荧光图像光密度计

说明书

本发明涉及对二维展开于TLC片(薄膜色谱分析片)上含有经荧光标记了的磷脂质等样品点的样品片进行测定的二维荧光光密度计。

作为测定展开于TLC片上的样品的二维光密度计，有测定光在TLC片上往复扫描，并在与此正交的方向上平移来进行测定的飞点扫描方式的光密度计。

而且这样的光密度计是由经过样品的测定光的反射光和透射光来测定其吸光度的。

作为飞点扫描方式，有如实施例图1所示的，由与中心的距离一致变化的螺旋状光缝S_r，和具有该螺旋状光缝S_r的在光缝圆板24的半径方向上延伸并与螺旋状光缝S_r配合的固定光缝S_fix来限制光束，通过螺旋状光缝S_r的往复旋转运动而使样品面上的光束沿左右方向显示的方式。使光束在样品面上显示的场合，光束根据扫描方向的位置具有强度不同的所谓位置分布。光束之所以有位置分布，可考虑为是螺旋状光缝的槽穴宽的不均匀性，光学系统的属性特别是照射到固定光缝S_fix上光的强度分布或使光束沿左右方向显示的场合由于光路倾斜而使入射到探测器的光通量变化等原因。

这样的位置分布对于从样品发出的反射光和透射光测定吸光度的光密度计例如可由半透半反镜取出照射光的一部分来进行监测。

可考虑将对展开于样品片上的样品成分进行荧光标记的荧光图光密度计用作为光密度计。通过荧光标记样品成品、由激励光激励样品测定其荧光强度，能比已有的测定吸光度的方法进行高灵敏度的测定。然而对于荧光图像光密度计按已有的方式是无法修正位置分布。

本发明目的在于提供一种按飞点扫描方式工作时可以修正位置分布的荧光图像光密度计。

在本发明中，作出激励光强度的修正表，通过用修正表的值除从样品发出的荧光强度，进行位置分布修正，并除掉位置分布成分。除去位置分布成分用的修正表例如通过测定加入荧光剂的TLC片而得到。

为此本发明的荧光图像光密度计包括：对测定片扫描照射激励光束的激励光学系统；检测从测定片的激励光照射位置发出的荧光的荧光检测系统，其特征在于还包括：将至少在激励光扫描范围内均匀加入荧光剂的试片装上作为测定片进行测定时的荧光强度数据与测定片上的扫描方向的位置信息一起存储的修正表存储器；将样品片装上作为测定片进行测定时的荧光强度检测数据除以存储于所述修正表存储器中的测定片上扫描方向的相同位置的荧光强度数据的运算部。

图1是示出一实施例的构成图。

图2是示出光束扫描的激励光强度的位置分布的图。

图3是示出测定样品片时的荧光强度的图。

图4是示出位置分布修正功能的框图。

图5是示出飞点方式的扫描的图。

图6是示出作出修正表顺序的流程图。

图7是示出测定样品的流程图。

其中，26为步进电机，24为圆板，S_r为螺旋状光缝，S_fix为固定光缝，34为测定片，40为荧光滤光片，42为荧光用光电倍增管，46为IV变换器，48为A-D变换器，50为CPU，52为电机驱动电路，54为修正表，56为运算部。

图1表示第一实施例。

10为卤钨灯，12为氘灯，备有2种灯作为光源。14为光源切换镜，用来将从10或12任一灯发出的光作为激励光。16为切换滤光片，可在光路中插入使激励光成分的光透过的滤光片。18为分光器的入口光缝，20为准直面镜，22为衍射光栅。分光器的出口光缝是螺旋状光缝S_r与固定光缝S_fix。螺旋状光缝S_r形成在圆板24上，螺旋状光缝S_r可设计为从圆板24的中心的距离相对于旋转角单调变化的形状。在圆板24上除了螺旋状光缝S_r以外还图示了孔穴尺寸相异的几个光缝25。这些固定光缝25是在固定照射光束进行测定的情况下停下圆板24而被使用的。圆板24在以飞点扫描方式使用时在激励光透过螺旋状光缝S_r的范围内可在往复方向上旋转驱动。26是驱动圆板24的步进电机。螺旋状光缝S_r与在圆板24的半径方向上延伸的固定光缝S_fix重合。