[发明专利]现场快速表面粗糙度测量仪的传感方法无效

专利信息
申请号: 92102709.5 申请日: 1992-04-19
公开(公告)号: CN1070472A 公开(公告)日: 1993-03-31
发明(设计)人: 刘继富 申请(专利权)人: 刘继富
主分类号: G01B7/34 分类号: G01B7/34
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 631525 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 现场 快速 表面 粗糙 测量仪 传感 方法
【说明书】:

发明是表面粗糙度检测的传感方法。

在机械产品制造的过程中,对产品零件的表面粗糙度的检测几乎对每个零件都要进行。但从过去到现在,生产现场对表面粗糙度的检测几乎都是用人眼看,由于人眼没有准确的量度,凭经验得出的结果往往误差较大。对表面粗糙度过高的要求一般来说将要增加加工的难度和提高成本。另一方面过高或过低的要求都有可能影响产品的质量或性能。当然,这并不是说在现有技术中没有表面粗糙度检测仪器,据我所知,在现有的表面粗糙度检测仪器中,有用光学原理制成的“Ra”值检测仪;有用触针作为传感器制成的轮廓计。

用光学原理制成的仪器有:上海长江科学仪器厂1965年制造的XSG型双管显微镜;上海光学仪器厂1976年制造的6JA型干涉显微镜。

用触针压电原理制成的仪器有:江苏扬州无线电仪器厂1986年制造的YCL-1型便携式表面粗糙度轮廓计。下面简述各仪器的性能、使用、保护条件及缺点:

XSG型双管显微镜,可测原旧国标3-9的“Rz”值,测量分九个步骤(需计算)。使用环境温度需保持20℃+5°,必须避免油污和手汗触及物镜及其它光学零件。该仪器的主要缺点为:(1)不能测量新标准中优先选用的“Ra”值;(2)使用环境温度要求严格,缺乏现场使用能力;(3)操作较复杂,检测速度慢;

6JA型干涉显微镜,可测旧国标10-14的“Rz”值(需计算)。仪器要求最好安置在计量室,在车间现场使用时,应防止灰尘和油污,用后放回计量室。该仪器主要缺点是:(1)只能测量高精度的“Rz”值,不能测量新标准优先选用的“Ra”值;(2)操作较复杂,检测速度慢,现场使用能力较差;

YCL-1型便携式表面粗糙度轮廓计,可测量0.2-10μm的“Ra”值,测量误差不大于±15%,示值变差不大于12%,测量时,依靠触针在表面上垂直于刀纹的方向,以1.2mm/秒的速度移动,使用需用支承架。该仪器的主要缺点是:(1)测量误差和示值变差较大(国防工业出版社1987年8月出版的《机械制造检验技术》中有这样一段评价:“采用针描法测量表面粗糙度时,因受测针尖端圆弧半径的限制,难以探测到表面实际轮廓的谷底,影响测量精度,同时测针还有可能划伤被测表面。故针描法不宜测量表面质量很高的零件。”);(2)该仪器测量速度仍较慢。

上述三种仪器的共同点,都是以线代面的测量(即:以几条取样长度线内的平均粗糙度值代表表面粗糙度值),对于“表面粗糙度”而言,这种平定方法应当说是近似的。

综上所述,在现有技术中,主要是缺乏生产现场实用的表面粗糙度测量仪。

为解决现有技术中用人眼看“表面粗糙度”误差较大的问题;为解决现有技术中生产现场缺乏表面粗糙度测量仪的问题,我发明了一种现场快速表面粗糙度测量仪的传感方法。

我发明的现场快速表面粗糙度测量仪的传感方法,是利用在工件被测表面去建立电容(或容抗)的方法来完成传感的,也就是说为了达到测量表面粗糙度的目的,用介质薄膜和金属箔在被测零件表面去建立电容(或容抗),致使工件表面构成电容的另一极板,这时,在介质膜厚度,介电常数及金属箔尺寸不变的情况下,电容量则随着工件被测表面的微观的凹下部分的增大而减小(此时容抗增大),反之,电容量增大(容抗减小)。如果把该电容接入测量电容(或容抗)的电路,那么,即可通过电容量(或容抗)的变化测出与之对应的表面粗糙度值。

我用上述方法制成的传感器与一测量容抗的电路连接后,用它去测量一组已知表面粗糙度“Ra”值为0.132-4.6μm的标准块(“Ra”值是由兵器工业部第二九六区域长度计量站1991年6月23日检定得出的),把测得的容抗值与对应的“Ra”值用平面解析几何作在“附图1”上,由图得出容抗与“Ra”值为线性关系(由于对应点不完全在直线上,所以得出的结果是近似的,但最大误差不大于±11.9%)。关系式为:

y-y1= (y2-y1)/(x2-x1) (x-x1)

此时:y代表“Ra”值;

x代表容抗值。

如果把传感器与测量容抗的电路连接,利用上述的关系式把对应的“Ra”值用显示器显示,就构成了现场快速表面粗糙度测量仪。

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