[发明专利]磁性检测方法及其装置

权利要求书

1、具有以下特征的磁性检测方法：利用磁敏元件来检测在磁场内与磁场作相对移动的被测物体的磁性异常部分所引起的漏磁通，用低通滤波器提取出该磁敏元件输出信号中所包含的低频信号成分，对提出的低频信号成分进行放大后，输入到补偿线圈内，利用该补偿线圈所产生的磁通来抵消与上述磁敏元件交叉的杂散磁通。

2、根据权利要求1所述的磁性检测方法：设置磁化器，其位置要使其一对磁极对准（面向）上述被测物体，借助该磁化器使磁通与上述被测物体相交叉，将上述磁敏元件设置在上述一对磁极的连线上或与此线平行的线上，利用该磁敏元件来检测上述被测物体内部或表面的磁性异常部分所造成的漏磁通。

3、具有以下构成部分的磁性检测装置：①磁敏元件，它用于检测在磁场内与磁场相对移动的被测物体磁性异常部分所造成的漏磁通;②低通滤波器，它用来提取该磁敏元件输出信号中所含的低频信号成分;③放大器，它对由该低通滤波器提取的低频信号成分进行放大;④补偿线圈，它被该放大器的输出信号励磁，产生能抵消与上述磁敏元件相交叉的杂散磁通。

4、根据权利要求3所述的磁性检测装置：上述磁场由磁化器产生，磁化器的一对磁极对准上述被测物体;上述磁敏元件设置在上述磁化器的一对磁极之间的连线上或与此线平行的线上。

5、根据权利要求3所述的磁性检测装置：上述磁敏元件是对上述被测物体的磁性异常部分所造成的漏磁通中的、垂直于上述被测物体表面的成分进行检测的磁敏元件，而且，上述补偿线圈绕制在上述磁敏元件外圆面的周围。

6、根据权利要求3所述的磁性检测装置：上述磁敏元件是对上述被测物体磁性异常部分所造成的漏磁通中的与上述被测物体表面平行的成分进行检测的磁敏元件，而且上述补偿线圈绕制在上述磁敏元件外圆面的周围。

7、根据权利要求3所述的磁性检测装置，它具有以下构成部分：①特定信号提取滤波器，它用于提取上述磁敏元件输出信号中所含上述磁性异常部分所产生的信号;②速度检测器，它用于检测上述被测物体相对于上述磁敏元件的移动速度;③频率控制装置，它根据由该速度检测器检测出的移动速度来控制上述特定信号提取滤波器的通过频率。

8、根据权利要求4所述的磁性检测装置，它具有以下构成部分：①特定信号提取滤波器，它用于提取上述磁敏元件输出信号中包含的上述磁性异常部分所产生的信号;②速度检测器，它用于检测上述被测物体相对于上述磁敏元件的移动速度;③频率控制装置，它根据由该速度检测器检测出的移动速度来控制上述特定信号提取滤波器的通过频率。

9、具有以下构成部分的磁性检测装置：①磁敏元件，它用于检测在磁场内相对于该磁场移动的被测物体的磁性异常部分所产生的漏磁通;②低通滤波器，它用于提取该磁敏元件输出信号中所含的低频信号成分;③积分器，它对由该低通滤波器提取的低频信号成分进行积分;④放大器，它对由该积分器积分后的低频信号成分进行放大，⑤补偿线圈，它由该放大器的输出信号进行励磁，生成能抵消与上述磁敏元件相交叉的杂散磁通。

10、具有以下构成部分的磁性检测装置：①磁敏元件，它用于检测在磁场内相对于该磁场移动的被测物体的磁性异常部分所产生的漏磁通;②特定信号提取滤波器，它用于提取该磁敏元件输出信号中所含的由上述磁性异常部分产生的信号;③输出放大器，它对该特定信号提取滤波器的输出信号进行放大，并作为缺陷信号加以输出;④磁敏元件，它设置在上述磁敏元件的附近位置上，用来检测上述磁场中的与上述被测物体表面平行的成分;⑤放大器控制装置，它用上述磁敏元件的输出信号来控制上述输出放大器的放大率。

11、根据权利要求10所述的磁性检测装置，它具有以下两种电路：①标准信号发生电路，它输出与上述输出放大器标准放大率相对应的标准信号;②除法电路，它插在用来检测上述磁场的平行于上述被测物体表面的成分的磁敏元件和上述输出放大器之间，使上述磁敏元件的输出信号除以上述标准信号，用经过除法运算后的输出信号来控制上述输出放大器的放大率。