[发明专利]无触点表面定位测量监控装置无效
申请号: | 92109935.5 | 申请日: | 1992-09-29 |
公开(公告)号: | CN1084796A | 公开(公告)日: | 1994-04-06 |
发明(设计)人: | 郭爱力;董丽春 | 申请(专利权)人: | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
主分类号: | B24B49/00 | 分类号: | B24B49/00 |
代理公司: | 中国科学院沈阳专利事务所 | 代理人: | 朱光林 |
地址: | 110003 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 触点 表面 定位 测量 监控 装置 | ||
1、一种无触点表面定位测量监控装置,以磨床加工机械为主体,其特征在于定位测量部分由光学部分、控制电路部分及微机组成,其中光学部分有光源A、聚光镜B、物镜E组成;控制电路由Ⅰ线阵CCD驱动电路,Ⅱ线阵光电转换器件CCD,Ⅲ两级低放电路,Ⅳ电位检出电路和Ⅴ单片机8031组成。
2、按照权利要求1所述之无触点表面定位测量监控装置,其特征在于所述之光学部分光源A通过聚光透镜B,光束C照到加工件上(2)之D点反射到与透镜B互成90°的物镜E,穿过物镜E照到光电转换器件G上。
3、按照权利要求1所述之无触点表面定位测量监控装置,其特征在于控制电路由线阵CCD的驱动电路I,主振频率为2MC,分频后得到相位相反的两个0.5MC驱动信号,一个1MC的移位信号和一个时标信号。
4、按权利要求1所述之无触点表面定位测量监控装置,其特征在于控制电路为线阵光电转换器件CCDⅡ前面为驱动电路Ⅰ,输出经两级三级管放大Ⅱ,输出到电位检出电路Ⅲ,最后输出到微处理器V。
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