[发明专利]全元素离子束材料表面改性方法无效

专利信息
申请号: 92111475.3 申请日: 1992-09-28
公开(公告)号: CN1034679C 公开(公告)日: 1997-04-23
发明(设计)人: 李国卿;马滕才 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: C23C14/22 分类号: C23C14/22;C23C14/48
代理公司: 大连理工大学专利事务所 代理人: 侯明远
地址: 11602*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 元素 离子束 材料 表面 改性 方法
【说明书】:

发明属于材料表面改性方法。

在现有的材料表面改性方法中,通常包括离子注入、离子束辅助沉积、真空离子镀膜等方法。其中,离子注入方法有气体离子注入和金属离子注入方法;离子束辅助沉积局限于气体离子束(如氮气、氩气、氙气等)辅助沉积,只能形成TiN、ZrN等膜或离子束混合膜层;真空镀和离子镀具有较高的沉积效率,但膜层与基体之间过滤区窄、结合力较差。

本发明的目的在于提供一种多功能材料表面改性方法,除完成现有离子注入方法、离子束辅助沉积外,还可完成气体-固体离子复合注入方法、金属离子束增强沉积膜、多层膜和复合膜的表面改性方法。使用范围广,所以称为全元素离子束材料表面改性。

本发明的技术内容:

将清洗的工件(3)放在真空室(1)内的可转动水冷工件台(2)上,真空抽至10-4~10-3Pa。

离子溅射源(5)通入氩气,形成氩离子束,射到原子束溅射靶(6)上,靶材可采用一种材料或多种材料组合靶,从靶材上溅射下原子,沉积在工件(3)表面上。与此同时,由离子注入源(4)引出气体离子束、碳、硅或硼单一离子束,或者同时引出气体和金属离子束注入到工件表面,形成各种功能膜和多层复合膜,如超硬膜、光学膜、电导膜和超导膜等。

向全元素离子注入源(4)中通入气体,如N2、Ar、BH4、CH4,离子化后在引出系统作用下,引出气体离子束进行气体离子注入;接通导电固体阴极(如纯金属、石墨碳、化合物)的触发电源,形成真空弧,产生的固体蒸气离化后,在引出系统作用下,引出金属或其它离子束,进行金属等离子注入;若触发二个以上导电固体阴极时,进行金属复合离子注入;同时触发气体和固体阴极,进行气体—金属元素复合离子注入。

本发明的技术特点和指标:

1.真空室(1)极限真空度10-4Pa。

2.离子注入源(4)是脉冲全元素离子注入系统,可以进行气体离子注入、固体(金属或其它导电体)离子注入、气体—固体离子同时注入,其中固体阴极可为单种材料引出单元素离子束;也可由多种材料组合,同时触发引出多元素离子束。

技术指标:引出电压20~100KV,束流强度:气体离子束流强0~200mA、金属离子束流强0~250mA,脉冲频率10-50Hz可调。

3.离子束溅射源(5)

技术指标:引出电压2-20KV,束流强度400mA。

4.溅射靶(6)为水冷式结构,靶材由单种金属材料或多种材料组合制成。

实现本发明材料表面改性实施例如下:

1.金属离子增强沉积膜

在玻璃或铜基体材料上,铝离子增强沉积铝膜。金属离子注入源:固体阴极纯铝制成,引出电压40-50KV,抑制电压3KV,触发电压200V,脉冲频率50Hz。离子溅射源:引出电压3KV,氩离子束流强度200mA,溅射靶材为纯铝,沉积率2/s。沉积膜厚1000~5000,结合强度大于0.3MPa。

在变更金属离子束和金属沉积原子束种类时,形成不同成分组成的金属离子增强沉积膜,如铝离子增强沉积铜铝合金膜,钼离子增强沉积钼铝合金膜等。

2.复合超硬膜

离子溅射源:引出电压5KV,氩离子束流强250mA,溅射靶为纯钛,沉积率1/s。

a)离子注入源中通入氮气、引出电压50KV,抑制电压2.2KV,触发电压150V,频率50Hz。形成TiN膜,硬度Hk2000~2400。

离子注入源中,固体阴极分别由石墨碳和金属铪组合。

b)同时进行氮离子和碳离子束增强沉积,氮离子束参数同上,石墨碳触发电压220V,气体和固体触发脉冲起始间隔300μs。形成Ti(C.N)过滤膜层。

c)停止氮离子注入系统,进行碳离子增强沉积,参数为引出电压50KV,抑制电压2.5KV,触发电压200V,脉冲频率50Hz,形成TiC膜层,硬度Hk3000~3200。

d)同时触发碳和铪,进行碳—铪离子增强沉积,引出电压60KV,抑制电压3KV,触发电压200V,脉冲频率50Hz,形成(Ti、Hf)C膜层,膜层硬度Hk3800~4000。

通过上述工艺过程,形成过渡区200~300的高结合强渡的TiN/Ti(NC)/TiC(Ti·Hf)C复合多层超硬膜。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大连理工大学,未经大连理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/92111475.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top