[发明专利]防霉磁盘及其制备方法无效
申请号: | 92114137.8 | 申请日: | 1992-12-02 |
公开(公告)号: | CN1075227A | 公开(公告)日: | 1993-08-11 |
发明(设计)人: | 陈树光;陈弟虎;郭扬铭;徐运海;朱小兵 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | G11B5/72 | 分类号: | G11B5/72;G11B5/84 |
代理公司: | 中山大学专利事务所 | 代理人: | 叶贤京,林灿志 |
地址: | 51027*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 防霉 磁盘 及其 制备 方法 | ||
本发明涉及计算机使用的防霉磁盘及其制备方法。
微型计算机已在教学、科研、生产和管理等方面获得广泛应用,磁盘是计算机必不可少的部件。如果磁盘不具防霉功能,发霉后便不能使用,里面储存的信息会因此而受到破坏,造成物质上和资料上的重大损失。我国每年使用磁盘数以亿计,由于磁盘发霉而造成的损失无法估量。当前国内生产的磁盘绝大部分没有防霉功能,国外虽有人在磁盘中加入防霉剂,声称有防霉作用,但效果很差,且没有防水、防污、耐磨的功能。
本发明的目的是提出一种防霉磁盘及其制备方法,使磁盘具有防霉作用。同时兼备防水、防污、耐磨的功能。
本发明通过以下措施达到。在普通的磁盘表面上复盖一层类金刚石碳膜,膜层厚度为10~200nm。
类金刚石碳膜的制备方法是这样的:把普通磁盘置于真空系统内,采用射频等离子体增强化学气相沉积法,用电容耦合平行平板结构,在丁烷气氛中进行,气体流量为10~20sccm,表观功率密度0.5~10w/cm2利用本发明方法制备类金刚石碳膜,可在室温下进行,衬底不必加热因而避免高温制备箔膜所带来的影响。
按中华人民共和国国家标准、电工电子产品基本环境试验规程、试验J的长霉试验方法进行磁盘防霉试验,结果表明,没有镀膜的万胜盘、DATACE盘等,试验后发霉程度为3级,镀了类金刚石碳膜后(厚度为80~120nm),发霉程度降至0~1级,可见有十分明显的防霉效果。另外通过各种试验表明,防霉磁盘的防水能力、防污能力和耐磨性能大大提高。普通磁盘经2.5×105次读写后便开始出错,而防霉磁盘经1.4×106次写读后仍完好无缺。事实上,类金刚石碳膜是一种公认的良好固体润滑剂,不仅不会磨损磁头,而且对磁头有保护作用。
本发明的具体实施例:
采用电源频率为13.6MHZ;
电极直径14cm,电极间距4cm;
真空室压强50pa。
其它各项参数如表一所示。
表一
表观功率密度 气体流量 生长速度
w/cm2sccm nm/min
0.7 15 30
0.72 15 31
0.9 15 34
1.27 15 40
4.00 12 71
7.00 10 95
膜厚与沉积时间成线性关系。
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