[发明专利]防霉磁盘及其制备方法无效

专利信息
申请号: 92114137.8 申请日: 1992-12-02
公开(公告)号: CN1075227A 公开(公告)日: 1993-08-11
发明(设计)人: 陈树光;陈弟虎;郭扬铭;徐运海;朱小兵 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: G11B5/72 分类号: G11B5/72;G11B5/84
代理公司: 中山大学专利事务所 代理人: 叶贤京,林灿志
地址: 51027*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 防霉 磁盘 及其 制备 方法
【说明书】:

发明涉及计算机使用的防霉磁盘及其制备方法。

微型计算机已在教学、科研、生产和管理等方面获得广泛应用,磁盘是计算机必不可少的部件。如果磁盘不具防霉功能,发霉后便不能使用,里面储存的信息会因此而受到破坏,造成物质上和资料上的重大损失。我国每年使用磁盘数以亿计,由于磁盘发霉而造成的损失无法估量。当前国内生产的磁盘绝大部分没有防霉功能,国外虽有人在磁盘中加入防霉剂,声称有防霉作用,但效果很差,且没有防水、防污、耐磨的功能。

本发明的目的是提出一种防霉磁盘及其制备方法,使磁盘具有防霉作用。同时兼备防水、防污、耐磨的功能。

本发明通过以下措施达到。在普通的磁盘表面上复盖一层类金刚石碳膜,膜层厚度为10~200nm。

类金刚石碳膜的制备方法是这样的:把普通磁盘置于真空系统内,采用射频等离子体增强化学气相沉积法,用电容耦合平行平板结构,在丁烷气氛中进行,气体流量为10~20sccm,表观功率密度0.5~10w/cm2利用本发明方法制备类金刚石碳膜,可在室温下进行,衬底不必加热因而避免高温制备箔膜所带来的影响。

按中华人民共和国国家标准、电工电子产品基本环境试验规程、试验J的长霉试验方法进行磁盘防霉试验,结果表明,没有镀膜的万胜盘、DATACE盘等,试验后发霉程度为3级,镀了类金刚石碳膜后(厚度为80~120nm),发霉程度降至0~1级,可见有十分明显的防霉效果。另外通过各种试验表明,防霉磁盘的防水能力、防污能力和耐磨性能大大提高。普通磁盘经2.5×105次读写后便开始出错,而防霉磁盘经1.4×106次写读后仍完好无缺。事实上,类金刚石碳膜是一种公认的良好固体润滑剂,不仅不会磨损磁头,而且对磁头有保护作用。

本发明的具体实施例:

采用电源频率为13.6MHZ;

电极直径14cm,电极间距4cm;

真空室压强50pa。

其它各项参数如表一所示。

表一

表观功率密度    气体流量    生长速度

w/cm2sccm nm/min

0.7    15    30

0.72    15    31

0.9    15    34

1.27    15    40

4.00    12    71

7.00    10    95

膜厚与沉积时间成线性关系。

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