[发明专利]波形产生装置无效
申请号: | 92114244.7 | 申请日: | 1992-12-12 |
公开(公告)号: | CN1040807C | 公开(公告)日: | 1998-11-18 |
发明(设计)人: | 野中达也;工藤政树;大野京子;白川登喜男 | 申请(专利权)人: | 雅马哈株式会社 |
主分类号: | G10H7/00 | 分类号: | G10H7/00;G10H7/02;G10H1/057 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 范本国 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 波形 产生 装置 | ||
1.一个波形产生装置,包括:
用于存储波形抽样值数据的波形存储装置;
用于标识第一方式或第二方式的方式标识装置,以及
用于根据是第一方式还是第二方式被标识,来控制波形存储装置的读取的处理装置,其中:
当标识第一方式时,完成的处理是根据从波形存储装置读出的多个抽样值数据的组合,产生一个波形的抽样值数据;并且
当标识第二方式时,完成的处理是根据从波形存储装置读出的一个抽样值数据,产生和输出一个波形抽样值数据。
2.如权利要求1所述的波形产生装置,其中所述方式标识装置在分时基础上,标识第一方式和第二方式,且
所述处理装置在分时基础上按第一方式和第二方式的分时标识,来完成第一方式的处理和第二方式的处理。
3.如权利要求1所述的波形产生装置,其中所述方式标识装置能够选择第一方式和第二方式的连续标识或者第一方式和第二方式的分时标识,且
当第一方式和第二方式的分时标识被选择时,所述处理装置在分时基础上完成第一方式的处理和第二方式的处理。
4.如权利要求1所述的波形产生装置,其中所述处理装置根据预定周期的读处理时间槽从波形存储装置读出波形抽样值数据,且当第一方式被标识时,在预定数的时间槽上读出预定数的抽样数据值,并产生和输出一个波形的波形抽样值数据;当第二方式被标识时,在预定数的时间槽上,为预定数的不同波形的每一个,读出一个抽样值数据,并在分时基础上产生以这些数据为基础的不同波形的抽样值数据。
5.如权利要求4所述的波形产生装置,其中所述处理装置在分时基础上对多个处理通道的每一个单独实现波形成形处理,并且,为一个处理通道分散地分配预定数目的时间槽。
6.如权利要求1所述的波形产生装置,其中所述处理装置当第一方式被标识时,利用从所述波形存储装置读出多个抽样值数据来实现预定的内插运算以便输出一个抽样值数据。
7.如权利要求1所述的波形产生装置,其中所述波形存储装置存储了不同类型的波形的抽样值数据,且
所述处理装置在多个处理通道的第一个中单独地实现波形成形处理,并当第一方式被标识时,在分时基础上利用一个处理通道从波形存储装置中为一个波形读出多个抽样值数据,同时在读出多个抽样值数据的基础上实现为产生一个波形抽样值数据的操作;当第二方式被标识时,在分时基础上利用一个处理通道从波形存储装置中为多个不同的波形读出多个抽样值数据,同时在分时基础上为在读出数据的基础上的不同波形产生抽样值数据。
8.如权利要求7所述的波形产生装置,还包括用于产生控制乐音信号的包络成形信号的包络产生装置以及用于控制乐音波形信号的控制装置,该乐音波形信号是由处理装置借助于包络产生装置所产生的包络成形信号来产生的,
当第一方式被标识时,所述包络产生装置对应所述的一个处理通道产生一个包络成形信号;当第二方式被标识时,在分时的基础上对所述的一个处理通道产生多个包络成形信号。
9.如权利要求1所述的波形产生装置,还包括对由处理装置按第一方式产生的波形抽样值数据进行滤波的数字滤波装置。
10.如权利要求1所述的波形产生装置,还包括对上述处理装置按第一方式所产生的波形抽样值数据的实现调制操作的调制操作装置。
11.如权利要求10所述的波形产生装置,其中所述调制操作装置对由处理装置产生的波形抽样值数据用一个预定的调制信号进行调幅。
12.如权利要求1所述的波形产生装置,还包括为产生随对应所需频率而改变的相位数据的装置以及利用处理装置按第一方式所产生的波形抽样值数据作为调制信号对相位数据进行调制的操作装置。
13.如权利要求1所述的波形发生装置,还包括一个用于标识待产生的乐音的乐音标识装置;另外,其中所述的处理装置根据被标识的乐音来开始对读取波形存储装置的控制。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于雅马哈株式会社,未经雅马哈株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/92114244.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:连续运转的过滤装置
- 下一篇:定量检测细长导磁构件缺陷的装置和方法