[实用新型]颗粒粒径的测量装置无效
| 申请号： | 92234268.7 | 申请日： | 1992-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN2144304Y | 公开（公告）日： | 1993-10-20 |
| 发明（设计）人： | 李栋;顾雪梅 | 申请（专利权）人： | 上海市测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 上海专利事务所 | 代理人： | 郑立 |
| 地址： | 20023*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 颗粒 粒径 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1、一种直接测量颗粒粒径的测量装置，包括一光学显微镜，该光学显微镜由照明部分、载物平台、光学放大部分以及包括固定分划板和可动分划板的粒径测量部分组成，其特征在于：
还包括两个分别驱动载物平台进行横向和纵向移动的步进电机和一个驱动可动分划板进行斜向移动的步进电机，所述各步进电机分别通过各自的传动机构与载物平台及可动分划板连接；还包括一向各步进电机输入脉冲信号的装置。
2、如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述的传动机构包括一丝杆或齿条。
3、如权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，所述脉冲信号输入装置为一微机，该微机还记录脉冲数并进行粒径计算。
4、如权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，所述脉冲信号输入装置为一单片机。
5、如权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，所述脉冲信号输入装置为一数字电路装置。
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