[发明专利]通过界外图形分析的涂层缺陷检测系统

权利要求书

1、一种涂层内的缺陷检测系统，其特征在于它具有下列装置：

照射装置，用以用光照射被涂覆纤维，从而产生预期的前向散射图形，该图形表示光照射入质量合格的涂层时的前向光程和强度；和

监视装置，用以监视预期的前向散射图形附近的光强度级，光强度级增加则表示涂层内有缺陷存在。

2、如权利要求1所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述照射装置还包括分束装置，此分束装置用以从激光源发射出的单个光束产生至少两个基本上等效的光束。

3、如权利要求1所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述监视装置包括至少两个光电二极管，紧挨预期的前向散射图形配置。

4、如权利要求1所述的缺陷检测系统，其特征在于，用至少两个正交排列的光束照射被涂覆纤维。

5、如权利要求1所述的缺陷检测系统，其特征在于，照射被涂覆纤维的光束宽度比被涂覆纤维的外径大。

6、检测涂层内缺陷的一种方法，其特征在于，它包括下列步骤：用光照射被涂覆纤维，从而产生预期的表示光射入质量合格的涂层时的前向光程和强度的前向散射图形;和

监视紧挨该预期的前向散射图形处的光强度级，光强度级增加则表示涂层内有缺陷存在。

7、如权利要求6所述的缺陷检测法，其特征在于，用至少两个正交配置的光束照射所述被涂覆纤维。

8、如权利要求6所述的缺陷检测法，其特征在于，照射所述被涂覆纤维的光束，其宽度大于所述被涂覆纤维的直径。

9、如权利要求6所述的缺陷检测法，其特征在于，用至少两个紧挨着所述预期的前向散射图形配置的光电二极管监视所述前向散射图形的光强度级。

10、如权利要求6所述的缺陷检测法，其特征在于，光强度级监视的响应时间短得足以使持续时间较短的缺陷可以作为生产线加工流程的一部分精确检测出来。