[发明专利]半导体光敏管动态特性测试方法无效
| 申请号： | 93104704.8 | 申请日： | 1993-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN1030547C | 公开（公告）日： | 1995-12-20 |
| 发明（设计）人： | 安毓英;胡波;李晓春 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 陕西电子工业专利事务所 | 代理人： | 王品华 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体 光敏 动态 特性 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1、一种用于定量测试半导体光敏管动态特性的方法，包括扫描电压、阶梯电压的产生及控制技术，其特征在于：
a.利用扫描电压及同步信号产生电路、扫描电压控制及输出电路、阶梯信号产生电路、扫描光强产生电路、阶梯光强产生电路与发光二极管连接产生线性扫描光强度及均匀递增的阶梯光强；
b.在扫描电流激励的条件下，利用光功率计或光电转换器件与示波器对扫描光强进行定标；
c.在单脉冲触发条件下，利用光功率计对阶梯光强进行定标。
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