[发明专利]通过模拟织物图象判断纱线参数的影响的方法和装置无效
申请号: | 93107346.4 | 申请日: | 1993-06-18 |
公开(公告)号: | CN1043910C | 公开(公告)日: | 1999-06-30 |
发明(设计)人: | R·赫勒 | 申请(专利权)人: | 泽韦格-乌斯特有限公司 |
主分类号: | D01H13/26 | 分类号: | D01H13/26;D06H3/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 董巍 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通过 模拟 织物 图象 判断 纱线 参数 影响 方法 装置 | ||
1.一种通过模拟织物的图像判断纱线各种参数的影响的方法,所述参数与机织物和编织物上的纱线的体积和/或直径和/或表面相关,所述机织物和编织物即由所述纱线制成,其特征在于,纱线沿其纵向穿过一产生信号的测量元件(4),所述信号显示出沿被检测纱线样品的长度上参数的波动;所述信号被换算成灰度值或彩色值,并变换成相应于纱线纵向方向上某一位置的图像点;所述图像点根据其位置沿所述纱线并列排列。
2.按权利要求1所述的方法,其特征在于,所述参数由纱线(5)的质量、直径、多毛度和/或结构所构成。
3.按权利要求2的方法,其特征在于,对所述参数直接测得的波动,即所谓的曲线图,进行统计分析;用于换算的值直接取自曲线图。
4.按权利要求2的方法,其特征在于,从直接测得的所述参数的波动中推导出经挑选的、纺织技术中重要的数据,把推导出的所述数据用于换算,并为由所述纺织技术中重要的数据重现图像点而模拟一种纱线信号。
5.按权利要求4的方法,其特征在于,采用纱线(5)上极少量的疵,即所谓的毛结进行换算,在图像中,以相应于测量数数据强度和频率的强度和频率,借助于所模拟的纱线信号,对所述极少量纱疵进行描述。
6.按权利要求4的方法,其特征在于,为进行换算,采用某个参数波动的波长谱图,同时在该波长谱图中检测所谓的烟囱状凸起,即明显超出理想谱图曲线的那些值。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,换算根据下列公式进行:
8.一种通过模拟织物的图像判断各种参数影向的装置,所述参数与机织物和编织物上的纱线的体积和/或直径和/或表面相关,而且机织物和编织物即由此纱线制成,其特征在于包括用于确定信号的一个测量元件(4),所述信号与在纱线长度上某个参数波动相关;一部计算机(2),该计算机借助于将灰度值或彩色值配置为图像点的装置,将信号换算为灰度值或彩色值;视屏显示设备(7)、和/或一个打印机(3)、和用于在视屏显示设备上和/或在打印机上,按纱线纵向上的位置,再现图像点的控制装置,以便模拟用所检测的纱线制成的机织物或编织物。
9.按权利要求8的装置,其特征在于,再现的图像点描述被检测纱线(5)的重新构成的图像。
10.按权利要求8的装置,其特征在于,再现的图像点是对被检测纱线(5)的模拟,这种模拟借助于在检测纱线样品中获得的纱线信号时,对纺织技术中重要的数据进行统计研究而取得。
11.按权利要求9或10的装置,其特征在于,测量元件(4)具有一个第一传感器,用于确定纱线样品(5)的质量或直径。
12.按权利要求9或10的装置,其特征在于,为确定纱线样品(5)的多毛度或结构,特别是其扭绞程度,测量元件(4)具有一个第二和/或一个第三传感器。
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