[发明专利]调制器测试系统在审
| 申请号： | 93109005.9 | 申请日： | 1993-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN1083291A | 公开（公告）日： | 1994-03-02 |
| 发明（设计）人： | 戴尔E·古利克;斋藤信;J·W·彼得逊;野垣胜;饭村年昭 | 申请（专利权）人： | 先进显微设备股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04B1/00 |
| 代理公司： | 上海专利事务所 | 代理人： | 竹民 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 调制器 测试 系统 | ||
1、一种对采用带有调制器的集成电路系统进行整体测试的系统，其特征在于，所述系统包括：
使所述调制器连续发送数据的装置和
使所述连续发送的数据呈现极度峰值频率偏移的装置。
2、如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述用于使所述调制器连续发送数据的装置及所述用于使连续发送的数据呈现极度峰值频率偏移的装置均包括一寄存器。
3、如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述寄存器包括一可设置用来使所述调制器连续发送数据的二进制位。
4、如权利要求3所述的系统，其特征在于，所述寄存器还包括一组可置位用来决定数据内容的二进制位。
5、如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述一组二进制位可被置位用来选择一种连续的数据发送的型式。
6、如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述一组二进制位还可被置位用来选择一种交替数据发送型式。
7、如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述用于使连续发送数据呈现极度峰值频率偏移的装置包括使所述连续发送数据呈现最大峰值频率偏移和最小峰值频率偏移。
8、一种对采用带有调制器的集成电路系统进行整体测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：使所述调制器连续发送数据;
使所述连续发送数据呈现极度峰值频率偏移。
9、如权利要求8所述的测试方式，其特征在于，所述使所述调制器连续发送数据的步骤和所述使所述连续发送的数据呈现极度峰值频率偏移的步骤均由一寄存器来完成。
10、如权利要求9所述的测试方法，其特征在于，所述寄存器包括一可被置位用来使所述调制器连续发送数据的二进制位。
11、如权利要求10所述的测试方法，其特征在于，所述寄存器还包括一套可被置位用来决定数据内容的二进制位。
12、如权利要求11所述的测试方法，其特征在于，所述一组二进制位可被置位用来选择一种连续的数据发送方式。
13、如权利要求12所述的测试方法，其特征在于，所述二进制数据也可被置位用来选择一种交替的数据发送方式。
14、如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述使连续发送的数据呈现极度峰值频率偏移的步骤包括使连续发送的数据呈现最大峰值频率偏移和最小峰值频率偏移的步骤。
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