[发明专利]分束干涉型光学间隔测量中干涉条纹级次的一种识别方法无效
申请号: | 93111998.7 | 申请日: | 1993-10-26 |
公开(公告)号: | CN1102254A | 公开(公告)日: | 1995-05-03 |
发明(设计)人: | 叶玉堂;刘永智;刘旭;毛清明;吴金谦 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 电子科技大学专利事务所 | 代理人: | 黄竞跃 |
地址: | 610054 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 干涉 光学 间隔 测量 条纹 级次 一种 识别 方法 | ||
1、分束干涉型光学间隔测量中干涉条纹级次的一种识别方法,它包括下列步骤:
(1)经准直的白光源,分束后经过待测光学间隔获得两个有相差的波阵面,然后使两束光发生干涉;
(2)将彩色光电检测器阵列置于光路末端,使干涉条纹投射在光电检测器阵列上;
(3)将彩色光电检测器阵列输出的电信号送至彩色图象处理卡,根据彩色图象卡的输出信号用色彩识别的办法确定零级。
2、根据权利要求1所述的识别方法,其特征在于在第(3)步骤的色彩识别中当采用人工操作时,将彩色图象处理卡的输出信号送彩色电视监示器,由人眼根据彩色监示器上的干涉条纹图象中彩色条纹关于零级条纹的对称性确认零级条纹。
3、根据权利要求1所述的识别方法,其特征在于在第(3)步骤的色彩识别中,当用计算机处理时,对彩色图象处理卡输出信号在一行内逐点比较红、绿、兰三信号中任二信号之比值(如:红信号电平与兰信号电平之比),再由彩色条纹关于零级的对称性确定零级条纹。
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