[发明专利]薄层调频分析技术

权利要求书

1、一种薄层调频分析技术，是地震勘探中识别薄层的分析方法，设薄层系层数N，薄层系总厚度T以及薄层系边界反射系数值R，薄层系内部反射系值r四个参数，其特征是：建立调频函数h(f)

h ( f ) = Σ k = 0 N ( - 1 ) k + 1 ( 1 - r 2 ) ke - j 2 π f v T N ]]> + [ R - r r ] [ 1 + ( - 1 ) N - 1 e - j 2 π f v · T N ]]>

以频率为X轴，以地层反射强度为Y轴绘制频谱图，它具有光效应，谱图中峰顶为光栅中心，次光栅越多薄层系薄层层数越多，薄层层数等于次光栅数加2。

2、根据权利要求1所述的一种薄层调频分析技术，其特征在于：递变型薄层系第一主光栅中心在零频上。

3、根据权利要求1或2所述的一种薄层调频分析技术，其特征还在于：

a.韵律型薄层系，当薄层层数N增加，第一主光栅中心离零频位移增加，薄层系厚度T越大，第一主光栅中心位移越小，光栅宽度越窄;

b.递变型薄层系，薄层系层数N增加，第一主光栅中心位置不变，光栅宽度也不变，当薄层系厚度T增加，第一主光栅中心位置不变，光栅宽度越窄。