[发明专利]自动测试时钟选择设备

权利要求书

1、具正常工作状态和测试工作状态的集成电路中的一种设备，其特征在于：

第一和第二输入端子(115，117)，为接收在所述正常状态期间具有相应的第一和第二随时间而变化的幅值特性的相应第一和第二输入信号而连接，所述第一信号在所述正常工作状态期间与所述第二信号具有预定的关系，且所述第一输入信号的所述幅值特性在所述测试工作状态下变化着，促使所述预定关系发生变化；

检测装置(140)，用以检测所述预定关系的所述变化，并在不存在所述预定关系时用以产生表明所述集成电路处在测试状态的控制信号(SELECT)；和

信号施加装置(150)，用以根据所述控制信号在所述正常状态期间通过第一信号通路(115经150的输入端A加到CLOCK)施加信号，并在所述测试状态期间通过第二信号通路(115经150的输入端B加到CLOCK)施加信号。

2、如权利要求1所述的设备，其特征还在于，所述第一和第二输入信号在所述正常工作状态期间是一些数字时钟信号。

3、如权利要求2所述的设备，其特征还在于，所述第一和第二输入信号在所述测试工作状态期间是一些随时间而变化的数字时钟信号;

所述预定关系是所述第一和第二输入信号在所述正常状态期间的相位关系;

所述第一输入信号的所述幅值特性在所述测试状态下的所述变化促使所述相位关系发生变化;且

所述检测装置包括用以检测所述相位关系中的所述变化的装置。

4、如权利要求2所述的设备，其特征还在于，所述第二输入信号在所述测试状态下的电平基本上是恒定的参考电平;且

只有当所述第一输入信号具有所述随时间而变化的幅值特性时，所述检测装置产生所述控制信号，以表示所述正常状态。