[发明专利]电容器缺陷的快速在线检测方法

说明书

本发明属于借助于测定材料的化学或物理性质来测试分析材料技术领域，更进一步涉及一种通过测试直流偏压下的机电谐振电容量来判断电容器内部缺陷存在的快速在线检测方法。

由于多层陶瓷电容器（Multilayet Capacitor，简称MLC）具有体积小，比容大，高频特性好等优点，已被广泛地用于各种电子系统中。MLC的生产工艺复杂，对产品质量的影响因素繁多，所以，在MLC的内部很容易产生缺陷，这种缺陷几乎不影响电容器的常规电性能，却严重地危害着产品的可靠性。目前，采用破坏性物理分析（DPA）法对整批产品进行抽样检测，这种方法极大地取决于被检样品和被检断面以及操作者的经验水平，因而分析结果的波动性很大。基于对这个问题研究的迫切性，近年来，发展对MLJC的无损检测（NDE）备受重视，尤其对电容器的逐只在线快速检测很感兴趣。

本发明的目的在于提供一种对于多层陶瓷电容器实现无损、快速、在线检测方法。

本发明的具体步骤是：第一步：将被测电容器接入由计算机控制的阻抗频谱分析仪的测试端;第二步：在被测电容器的两端加直流偏压;第三步：设置合适的频段做频谱图;第四步，根据频谱图所示谐振峰值的大小判别被测电容器的优劣

下面结合附图对发本明作进一步的描述。

图1为本发明的实施例的示意框图。

本发明实施例第一步，选用hp4192A型号的阻抗频谱分析仪2，其频率范围为5HZ-13MHZ，机内直流偏压-35V～+35V，将被测多层陶瓷电容器LMC接入hp4192A分析仪的测试端。第二步，给被测电容1施加偏压4，所加偏压的大小为被测电容标称电容值的0.5-1.5倍，偏压越高，谐振峰值越高，由于电容器的常规电参数已经经过筛选，非谐振时的电参数有较好的一致性。

保护电路5串接于直流电源4和被测电容1之间用于预防试样被击穿时测试仪器损坏绘图仪6与计算机3相接，用于数据、曲线输出，以便分析研究。