[发明专利]锯切半导体晶片时保护其上的有源区的方法无效

专利信息
申请号: 94103180.2 申请日: 1994-03-29
公开(公告)号: CN1043594C 公开(公告)日: 1999-06-09
发明(设计)人: 拉斐尔C·阿尔法罗;戴维·布莱尔 申请(专利权)人: 德克萨斯仪器股份有限公司
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304;H01L21/02;H01L21/78
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 孙敬国
地址: 美国得*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 半导体 晶片 保护 有源 方法
【权利要求书】:

1.一种保护先前制作在充分处理过的半导体晶片的第一表面上的有源区使之不受由锯切产生和锯切中使用的粒子和液体污染物的危害的方法,其中锯切晶片是沿着有源区之间的锯切通道进行的并将晶片锯切成芯片,每个这样的芯片包含一个有源区,该方法包含:

(a)使所述第一表面与第一条带状元件接触,所述第一条带状元件的一面上具有与锯切通道相对应并对齐的粘胶图形,该粘胶图形沿所述锯切通道粘附于第一表面以便第一条带状元件中由粘胶图形限定的未包含粘胶的部分覆盖所述有源区并由粘胶图形粘附锯切通道的部分粘封所述有源区,使所述有源区密封,防止污染物进入其内;

(b)沿所述锯切通道锯切晶片,将所述晶片分成芯片并将第一条带状元件分成粘附于芯片的片段;和

(c)对粘胶进行处理使片段脱离芯片。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述粘胶处理是通过对第一条带状元件的片段进行处理使片段脱离芯片。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一条带状元件和它的片段能透射紫外线且当受到紫外线曝光时粘胶失去其粘性。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法进一步可包含:

在粘胶已曝光于紫外线后将芯片与第一条带状元件的片段分离。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法可进一步包含:

(d)在步骤(a)之前,将涂有粘胶层的第二条带状元件粘附于与第一表面相反的晶片的第二表面;和

(e)在步骤(b)之后,对第二条带状元件上的粘胶进行处理使之脱离芯片。

6.如权利要求5所述的方法,其特征在于:在步骤(b)期间将第二条带状元件锯切成片段。

7.如权利要求5所述的方法,其特征在于,实施步骤(b)以便使晶片整体上不被完全锯切且第二条带状元件不被锯切成片段。

8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,在步骤(c)和(e)之前,通过沿整体上部分锯切的通道将其弯曲使部分锯切的晶片破裂成芯片,通过第二条带状元件使芯片箝位在它们原有关系的相对的定位中。

9.如权利要求5所述的方法,其特征在于,通过第一和第二条带状元件对粘胶进行处理使片段脱离芯片。

10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,第一和第二条带状元件和它们的片段能被紫外线透射,且当曝光于紫外线中时粘胶失去它们的粘性。

11.如权利要求10所述的方法,其特征在于,所述方法进一步包含:在粘胶已曝光于紫外线之后,将芯片与第一和第二条带状元件的片段分开。

12.如权利要求4或11所述的方法,其特征在于,分离芯片与片段是通过将负压加给其一或二者进行的。

13.如权利要求12所述的方法,其特征在于,每个有源区包括一可形变的梁,该梁可设定一个位置,在这位置中它调制入射光,而在其它位置上它不调制入射光。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德克萨斯仪器股份有限公司,未经德克萨斯仪器股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/94103180.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top