[发明专利]确定纱表面范围结构的方法和装置无效

专利信息
申请号: 94103558.1 申请日: 1994-03-31
公开(公告)号: CN1043080C 公开(公告)日: 1999-04-21
发明(设计)人: R·亨塞尔;H·旺普弗勒;P·赛兹 申请(专利权)人: 泽韦格乌斯特有限公司
主分类号: G01N33/36 分类号: G01N33/36
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 赵辛
地址: 瑞士*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 确定 表面 范围 结构 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种用于确定纱表面范围的结构的方法,包含以下的步骤:

(a)产生一个纱表面的成象;

(b)提供至少一个代表待测表面的典型结构型式的成象;

(c)将该纱表面的成象跟代表典型结构型式的成象进行比较;

(d)在所述进行比较的成象之间建立相互关系;

(e)导出一个确定或代表该纱的表面结构的相关信号。

2.按权利要求1所述的方法,其特征在于,纱的表面用单色光照射来提供一个纱表面的成象,该单色光被纱表面反射。

3.按权利要求1所述的方法,其特征在于,在表面结构待确定的是纱的捻度的情况,纱的捻度的确定包括确定纱表面上的纤维升角,确定纱的直径,并在确定了的纤维升角与直径的基础上计算纱的捻度。

4.按权利要求1所述的方法,其特征在于,提供所述表面结构的典型特征的成象。

5.按权利要求1所述的方法,其特征在于,待确定的纱的表面结构包括纱的杂质。

6.一种用于实现权利要求1的确定纱表面范围的结构的方法的装置,其特征在于该装置包含有传感器、用于将纱表面成象到传感器上的装置,该传感器具有多个对应于纱表面的一种结构的不同结构型式的传感元件,本装置还含有一个与该传感器连接来处理由所述传感元件提供的信号的评定装置。

7.按权利要求6所述的装置,其特征在于,所述传感器由设置在一块光电基片上的光电元件构成,该光电基片含有用于评定的集成电路。

8.按权利要求6所述的装置,其特征在于,传感元件由光电元件的条纹图型构成,单个的光电元件连接到两个线路点中之一上以将从光电元件来的电流相加。

9.按权利要求6所述的装置,其特征在于,用于纱表面成象的装置包括照射纱线的光源、物镜和聚光镜。

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