[发明专利]光学拾波装置

说明书

本发明涉及光学拾波装置，尤其涉及光源的位置调整机构。

在用于从光盘等取出信号的光学拾波器中为了使焦点检出特性的零交叉点与受光照射的光盘对焦面一致，有必要调整光源与受光元件的相互关系。其调整方法例举如下。

1.在受光一侧，沿光轴方向移动透镜，进行调节。

2.沿X、Y、Z方向移动受光元件，进行调节。

3.将光源固定在托架上，通过前后移动进行调整(参照实开平340620号公报)。

上述以往的光学拾波器都是部件数量多，用于调整的机构复杂，因而成本高，并阻碍其小型化。另外，由于调整机构复杂，故而在调整使焦点检出特性的零交叉点与受光照射的光盘对焦面一致后，常常会在调整中出现偏差。若在受光一侧移动透镜，或移动受光元件，则存在调整机构等易出现齿隙，调整所需时间延长，精度恶化的难题。

本发明为解决上述问题而作，目的在于提供一种光学拾波器，其结构简单，并且能以高精度将零交叉点与光盘对焦面调整一致。

本发明的一种光学拾波装置，通过物镜将来自激光源的光线照射在光盘上，用受光元件检测来自该光盘的光线，该装置还包括：

固定所述激光源、光学元件和所述受光元件的机架，该光学元件反射上述激光源的光线或者使其通过，所述受光元件接收所述激光源在光盘上反射出的反射光；

形成于该机架上，用于压入固定所述激光源的压入孔；

以及在所述压入孔中形成的阶梯部；

所述激光源可移动地设置在所述压入孔中由所述阶梯部限定的范围内。

图1是本发明光学拾波器的实施例的侧剖视图。

图2是上述实施例的俯视图。

图3是上述实施例的正剖视图。

图4是上述实施例中机架的俯视图。

图5是上述机架的正剖视图。

图6(a)是本发明光学拾波器另一实施例的主要部位放大正剖视图，图6(b)是又一实施例的正剖视图。

图7是表示压入孔有、无凹部情况下压入量与压入力的关系曲线。

图8是表示压入孔有、无凹部情况下压入量7与压入力的关系曲线。

图9是本发明光学拾波器另一实施例的主要部位放大正剖视图。

图10是上述实施例的主要部位放大侧剖视图。

图11是本发明的焦点检出曲线和剩余误差图。

图12示出本发明一个实施例的光学拾波器和柔性基板。

图13示出图12实施例光学拾波器与柔性基板的组装图。

图14示出柔性基板的安装方式。

下面，参照附图，说明本发明的光学拾波器的实施例。

图1至图3中，在用树脂整体成形等方法制成的机架10之上装着其外轭板18与内轭板20用树脂连成一体，并且，支持轴为树脂整体成形而成的固定单元1。可动单元2由上述支撑轴支承。

图4、图5中，在机架10纵向上的一侧边缘部的大致中央部位形成压入孔10a。其中压入由半导体激光器等构成的光源46，又在同一压入孔10a中，在光源46所发射激光的路径上设置衍射光栅48。在通过衍射光栅48的光线的路径上，设置将激光束向一侧(图中为左方)反射的光束分离器50。在光束分离器50反射出的激光的路径上设置反射镜52，将激光向上反射，引向下文述及的物镜及光盘。在被光盘反射，逆向行经上述物镜及反射镜52，通过光束分离器50的激光的路径上，设置兼作为光楔的传感透镜54，在传感透镜54后方(图中右侧)设置受光元件56。在机架10图中左侧的内底部形成呈球面的凹部30。在凹部30的外沿相对凹部30的中心构成90°角的地方分别形成孔58、60。在机架10图中右端部处形成叉状的导向部62，导向部62夹持导向轴64，藉此，机架10保持沿着导向轴64在图4的上、下方向亦即光盘的径向上移动的能力。

如图1至图3所示，在外轭板18圆筒状侧壁内表面的相对部位通过粘接等方式分别固定聚焦用驱动磁体22和跟踪用驱动磁体24。使各驱动磁体22、24接触上述凸起44的上表面，从面确定支撑轴26的方向。这样，构造成固定单元1。