[发明专利]准双光路光度仪无效

专利信息
申请号: 94104875.6 申请日: 1994-05-04
公开(公告)号: CN1146552A 公开(公告)日: 1997-04-02
发明(设计)人: 王常智 申请(专利权)人: 王常智
主分类号: G01J1/08 分类号: G01J1/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200080*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 准双光路 光度
【说明书】:

一种利用双光路测量光强度的光学仪器。

根据光照射在金属板上时,金属板会呈带电现象的原理,人们制成了光电池等光电器件,利用光电器件对需测强度的光进行光电转换,测量出光电转换后光电器件上的电流值,就得到了该被测光的光强度。但用上述方法测量电光源的强度时,由于被测的电光源光中的光强度产生的光电信号较弱,而外界的温度变化,电压波动引起的电噪声信号,使光强度产生的信号受到干扰,于是测出的光强度值不稳定、漂移、重复性差、误差大,这个问题国内外至今未解决。

发明准双光路光度仪利用双光路比较测量,在单光路光度仪的基础上,增加一个比较的光源探头,按受同一被测光的照射。其特征是除了有测量被测光强度的光探头4外,另外有单独接受同一光源的探头5。此光探头5接收的光与光探头4接收的光之比为一定值。工作量光探头5与光探头4同时被一光源照射、工作环境一样,两个光探头接受的由噪声(温度变化、电压波动……)引起的光电流信号大小、方向均一样。输入差动电路后,噪声引起的光电流变化被共模抑制。由于光探头5受到被测光产生的光电流与光探头4之比为一定值。这样光强度越大,光探头5和光探头4之间受被测光照后产生的光电流差值越大,其差值放大后,通过表头,显示出被测光的光度值。

由于具有此准双光路特征的光度仪不存在电噪声干扰问题。一般普通有一定放大能力的差动运算放大电路均可适用。本发明基本上解决了光电法测量光强度时,光度信号与噪声信号互相干扰问题,能准确的指出被测光的光度值,稳定性好,灵敏度高。重复性好,测量范围大。

本发明准双光路光度仪,应用范围广,为大小电光源厂,电视机厂,科研单位提供需测光的准确值。

附图说明:    

图1结构示意图。1-探头盒盖、2-金属软管、3-探头盒、4-光探头、5-光探头、6-差动电路板、7-表头、8-光度操作板(a-开关、b-调另旋钮)、9-探头盒室、10-机身。

准双光路光度仪两块独立的测光强弱的光探头4、5都装在探头盒3内,接受被测光的光信号,当被测光照在探头盒3的窗口上时,两块光探头4、5上同时产生光电转换,转换得到的光电流对差动电路6双端输入。由于两个光探头4、5工作时,外界环境一样,产生的温漂、电压波动等电噪声信号一样,对差动电路6来讲,为共模输入,因此噪声被抑制、抵消。由于光探头4接受的是全部的照射光,而光探头5受到的是与光探头4受光之比为一定值的照射光。两个光探头4、5接受的光大小不同。光探头4、5上产生的光电流也不一样,向差动电路6双端输入后,强弱不同的光电信号为差模信号被放大输出,联接差动电路6输出端的表头7指针偏转,指示出被测光对应的光度值。在本发明中光探头可用各种光电器件。只要求配对特性一样。

本发明准双光路光度仪测量范围大,并可随时利用关闭探头盖1的方法调零。使用方便、灵敏度高,重复性好,可适用于任何需测光强度工厂企业、科研单位。实施测光时,先接通电源,将探头盒3利用金属软管2从探头盒室9内,移至需测光强度位置,转动调零旋钮6,调表头7至零点,打开探头盒盖1、让被测光源照到探头盒3内光探头4、5上,即可在表头7上读出探头盒3所在位置的被测光强度值。

国内外现有的各种光度仪由于外界温度变化电压波动等因素的干扰。稳定性差,重复性不好,不能准确地对被测光进行测量,本发明克服了这一缺点,即使在外界干扰非常大的情况下,也能准确的反映出被测光的光度值。

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