[发明专利]直接存取存储设备中旋转执行器弧线补偿校正的方法和装置

权利要求书

1.一种在直接存取存储设备(DASD)中用于提供旋转执行器弧线补偿校正的方法，其特征在于包括以下步骤：

在盘面上预定参考磁道的一圈内众多扇区中的每个扇区内产生参考前馈校正信号；

标识特定的所选磁道；以及

对所标识的特定的所选磁道作出响应，将所产生的参考前馈校正信号的幅值和相位两部分都加以修改。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述在盘面上预定参考磁道的一圈内众多扇区中的每个扇区内产生参考前馈校正信号的步骤包括以下步骤：

在所述预定磁道一圈内所述众多扇区中每个扇区内测量径向跳动误差；以及

在所述预定磁道一圈内所述众多扇区中每个扇区内从所述所测量径向跳动误差中提取一次谐波径向跳动分量。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述用于修改所产生的参考前馈校正信号的相位的步骤包括下一步骤：将在所述特定的所选磁道处的传感器磁头的半径线和在预定的参考磁道处的传感器磁头的半径线加以比较，以计算半径线的改变。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述对所标识的特定的所选磁道作出响应、用于修改所述所产生的参考前馈校正信号的幅值和相位两部分的装置包括用于以下计算的装置： X ( n . L ) = 2 N [ C ( 1 , L ) cos W 0 n - D 1 , L ) sin W 0 n ] ]]>其中磁道L的一次谐波相位校正傅里叶系数C(1，L)和D(1，L)是

C(n，L)＝A(1)+θ(L)B(1)

D(n，L)＝B(1)-θ(L)A(1)其中A(1)和B(1)所述所测量径向跳动误差的实部和虚部傅里叶系数，θ(L)是盘面上预定磁道处和特定的所选磁道处两个位置传感器磁头角度的角度差。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于包括用于计算下式的装置： X ( m . L ) = 2 N [ C ( 1 , L ) cos W 1 m - D ( I , L ) sin W 1 m ] , ]]>

        0≤m≤M-1其中M＝P×N，其中P是一个整数，用于在盘而上磁道一圈内N个实际伺服扇区中每个扇区之间产生(P-1)个伪校正取样。