[发明专利]激光粒度仪专用标准粒子样板制备方法无效
| 申请号： | 94114047.4 | 申请日： | 1994-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN1042856C | 公开（公告）日： | 1999-04-07 |
| 发明（设计）人： | 应萱同 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G01B11/08 | 分类号： | G01B11/08 |
| 代理公司： | 复旦大学专利事务所 | 代理人： | 陆飞 |
| 地址： | 20043*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 激光 粒度 专用 标准 粒子 样板 制备 方法 | ||
【权利要求书】：
1、一种制备激光粒度仪专用的标准粒子样板的方法，使用了激光扫描，物孔成象工艺，并由微机控制操作过程，其特征在于：
(1)用高分辨率激光直接扫描照相底版；
(2)在系统光路中设置了消激光相干性装置；
(3)照相底版根据粒子分布的要求在扫描控制装置驱动下作二维移动，使激光成象光束始终处于系统光路中心，以实现激光束对照相底版的二维扫描。
2、根据权利要求1所述的制备标准粒子样板的方法，其特征在于系统光路设计依次为激光器1，声光控制快门2，消激光相干装置3，小孔滤波器4，物孔屏5，物镜6，成像透镜7，照相底版8，快门开启电路9，物孔屏驱动电路10和照相底版驱动电路11。
3、根据权利要求2所述的制备标准粒子样板的方法，其特征在于消相干装置是一种厚度为0.5～5.0mm的光学毛玻璃，工作时，转速控制在50～3000转/分。
4、根据权利要求2所述的制备标准粒子样板的方法，其特征在于物孔屏上的标准孔为1～100个由小到大分行排列。
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