[发明专利]联合收割机的脱粒分选装置

说明书

本发明涉及一种脱粒分选装置，包括：一面上下摆动一面分选处理脱粒后的处理物的摆动分选板；检测上述摆动分选板上的处理物的层厚的层厚检测机构；变更上述摆动分选板的漏下开度的开度变更机构；控制上述开度变更机构的控制装置。

在上述处理物层厚检测装置中，层厚检测机构例如是由以下垂姿势摆动自如地用枢轴支持在机身后方并且配置在摆动分选板上方的传感器杆以及将该传感器杆与处理物接触而向机身后方摆动的角度转换成层厚值的电位差计组成的层厚传感器构成，并且层厚传感器的层厚检测值由于摆动分选板的上下摆动而随时间变化，因此要按适当的时间间隔(例如100ms)对其层厚检测值进行采样，以其多个数据的移动平均值作为层厚值来进行判别。

还有，在脱粒分选装置中，根据上述判别的层厚检测信息(例如层厚检测值及其变化率的信息)变更调节摆动分选板的漏下开度，以便使摆动分选板上的处理物的层厚处于适宜范围，借此来防止在上述处理物层过薄时秸渣混入1次物中，以及反之在上述处理物层过厚时3次损失增加与2次返回量过分增加引起的谷粒损伤等缺点(参看例如日本国特开平5-21号公报)。

在上述以往的技术中，如果摆动分选板上的处理物层厚随时间变化缓慢时，则根据移动平均值求出的层厚值与实际层厚的差可以忽略。但是，摆动分选板上的处理物层厚随时间变化增大时，则根据上述移动平均求出的层厚值与实际的层厚之差增大，尤其是不能正确地检测出其层厚的变化。因此，根据该层厚检测信息来进行摆动分选板的漏下开度的调节也不是正确的调节控制，致使摆动分选板上的处理物层厚大大脱离适宜范围，有可能发生由于前述处理物层过厚或过薄的情形引起的不良后果。

本发明是鉴于上述实情而提出的，其目的在于，更正确地检测上下摆动的摆动分选板上的处理物的层厚，从而根据该层厚检测信息正确地进行摆动分选板的漏下开度调节等。

利用本发明制作的脱粒分选装置包括：一面上下摆动一面分选处理脱粒后的处理物的摆动分选板；检测上述摆动分选板上的处理物的层厚的层厚检测机构；变更上述摆动分选板的漏下开度的开度变更机构；控制上述开度变更机构的控制装置；

上述控制装置包括根据上述层厚检测机构的检测信息判别上述处理物的层厚的层厚判别机构。

上述层厚判别机构按照比上述摆动分选板的摆动周期短的采样周期采取上述层厚检测机构的检测信息，并且，上述层厚判别机构对于设定成与上述摆动分选板同周期的每一个周期，根据在其处理周期内采取的采样数据进行上述处理物的层厚判别。

采用具有这样特点的结构时，摆动分选板上的脱粒后的处理物随着摆动分选板的上下摆动而上下摆动，为了检测其处理物的层厚而设置于固定架上的层厚检测机构的检测信息按照上述摆动分选板的摆动周期进行变动。这样，按照比摆动分选板的摆动周期短的采样周期采取上述周期变动的层厚检测信息之后，对于设定成与摆动分选板同周期的每个周期，根据在其处理周期内采取的采样数据，例如根据其采样数据的平均值判别处理物的层厚。根据以上的处理，可除去摆动分选板的上下摆动对层厚检测信息的影响，而获得只是处理物的层厚的检测信息。

因此，通过除去摆动分选板的上下摆动的影响，能更正确地进行上下摆动的摆动分选板上的处理物的层厚检测，从而能根据其层厚检测信息正确地进行摆动分选板的漏下开度调节等。

在本发明的优选实施形态中，具有对于设定成与摆动分选板同周期的每个周期，根据在其处理周期内采取的采样数据的最大值与最小值的平均值判别处理物的层厚的作法。采取这种作法时，将在处理周期内的采样数据的最大值与最小值进行平均来判别处理物的层厚，因此，例如与将上述采样数据全部进行平均来判别处理物的层厚的作法比较，不仅确保实用上的层厚检测精度，同时还能使处理结构简化。

在本发明的另一优选实施形态中，具有检测从脱粒滚筒室漏下到上述摆动分选板上的处理物量的处理物量检测机构，并且，

为了使上述处理物的层厚处于合理范围内，上述控制装置按照操作量控制开度变更机构，而该操作量是根据上述层厚检测机构的层厚检测值及其变化率以及上述处理物量检测机构的信息决定的，这时，在上述层厚检测值及其变化率相同的情况下，上述控制装置使上述处理物量少时比上述处理物量多时更加大上述操作量。