[发明专利]用于分析熔融金属成分的探测元件在审
| 申请号： | 94191158.6 | 申请日： | 1994-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN1117762A | 公开（公告）日： | 1996-02-28 |
| 发明（设计）人： | 林恩·霍尔特;马克·A·斯韦特南;斯蒂芬·R·威特克 | 申请（专利权）人： | 库克森集团公司 |
| 主分类号： | G01N27/411 | 分类号： | G01N27/411 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 马涛 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 分析 熔融 金属 成分 探测 元件 | ||
【权利要求书】：
1、用于测试熔融金属或合金中微量元素的探测元件，包括氧化锆韧化锶β-氧化铝固态电解质。
2、如权利要求1所述的探测元件，其中所述氧化锆韧化锶β-氧化铝中含有5-25％(重量)的氧化锆。
3、如权利要求2所述的探测元件，其中所述氧化锆韧化锶β-氧化铝中含有10-20％(重量)的氧化锆。
4、如权利要求1至3中任何一项所述的探测元件，其中所述探测元件被罩在氧化铝石墨、可铸耐火材料或硅铝纶套中。
5、如上述权利要求中任一项所述的探测元件，其中所述固态电解质与参照材料相接触，以确保由所述探测元件测试的化学物质的活度在固态电解质一侧保持恒定。
6、如权利要求5所述的探测元件，其中所述探测元件适于测试熔融金属中的硫离子，所述参照材料包括钼和硫化钼的混合物。
7、如上述权利要求中任一项所述的探测元件，所述探测元件与一反电极共同使用，该反电极在测试装备至熔融金属间提供导电通路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于库克森集团公司，未经库克森集团公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/94191158.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：超低压灯适配器
- 下一篇：附带缝线的手术针的自动包装机以及使用包装机的方法
