[实用新型]正反接共用通道型现场用介质损耗因素及电容量测试仪

说明书

本实用新型涉及一种在现场进行高电压绝缘介质试验，以测试介质损耗因素tgδ和电容量C的测试仪，特别是一种正反接共用通道型现场用介质损耗因素及电容量测试仪。

在现场的绝缘介质试验中，广泛使用着高压西林电桥及其变型等手调平衡的测试仪。近年来带有微机的半自动或全自动的测试仪正逐步取代这些传统仪器，例如，中国专利CN2060894U及其产品GWS－1型光导微机介质损耗测试仪。然而这些测试仪在进行正、反接法测试时，其近地侧取样信号和远地侧取样信号所流经的通道不一样。它在正接时由近地侧取样装置取得的试品信号流经具有微机的接地端单元；反接时由远地侧取样装置取得的试品信号却流经高压端单元、模拟光导传输通路与接地端单元。这就造成了：（一）仪器电路结构的复杂化，相对地降低了整机可靠性。（二）由于不同的通道的特性参数不可能一致，这就增加了仪器系统误差，并使仪器的调试工作十分繁琐、困难。

本实用新型的任务是提供一种正反接共用通道型现场用介质损耗因素及电容量测试仪。它使得测试仪中取样装置和所有的测控通道对于正、反接法都是共用的，以克服上述已有测试仪之不足之处。

为达此目的，本设计所采取的技术解决方案是，在测试仪内形成一个至少包含前测控通道的浮动单元和至少具有正接法触头组与反接法触头组的耐高压正反接法转换开关，其中：浮动单元以如下结构，使之处于悬浮状态，单元中所有元器件装在一个屏蔽盒里，该屏蔽盒用绝缘体支撑，单元中工作电源由耐高压隔离电源提供，该单元与其它单元的联系，通过耐高压数据传输通路、耐高压遥控通路进行；耐高压正反接法转换开关连接于浮动单元与试品、试验电源之间，当该开关置于正接法位时，浮动单元从试品的近地侧取试品信号，当该开关置于反接法位时，浮动单元从试品的远地侧取试品信号。

由于上述解决方案中所有测控通道都成为正反接共用通道，这就具有如下优点：（一）仪器的电路结构单一化、大幅度简化了电路，从而相对地提高仪器的可靠性，也降低了成本；（二）该结构减少了正反接法测试时电路特性参数的差异性，相对地增强整机的稳定性，并使调试工作变得容易进行；（三）使用耐高压正反接法转换开关使得现场接线工作更加便捷。

以下结合附图对本设计作详细说明：

图1是实施例1的电原理总框图，

图2是图1中前测控通道（A）的电原理框图，

图3是图1中后测控通道（B）的电原理框图，

图4是图1中试验电源输入控制单元（P）的电原理框图，

图5是实施例2的电原理总框图，

图6是图5中前测控通道（A）和后测控通道（B）的电原理框图，

图7是图5中试验电源输入控制单元（P）的电原理框图。

图2、3、4中，标号（1）…（14）表示与图1中相应的联接线编号；图6、7中，标号（15）…（24）表示与图5中相应的联接线编号。

［实施例1］：

参照图1、图2、图3：浮动单元（S）包含：前测控通道（A）、驱动电路（G.1.1）和多路遥控组件接收电路（J.2.2），其中前测控通道（A）包含：多路开关（SW1）、（SW2）、试品信号干扰抑制电路（A.1）、试品方波电路（A.2）、试品幅－频变换电路（A.3）。接地端单元（M）包含：后测控通道（B）、数码显示器（D）、控制开关（K）、标准信号取样装置（n）、接收电路（G.2.2）和多路遥控组件发送电路（J.1.1），其中后测控通道（B）包含：单片微机（MCU）、标准信号干扰抑制电路（B.1）、标准方波电路（B.2）、试品－标准组合电路（B.3）。在浮动单元（S）与接地端单元（M）之间，有二条耐高压光导通路：其一条耐高压数据传输通路（G）的二端是发光管（G.1.2）、光敏管（G.2.1），发光管（G.1.2）受驱动电路（G.1.1）驱动，光敏管（G.2.1）联接至接收电路（G.2.2）；另一条耐高压遥控通路（J）的二端是发光管（J.1.2）、光敏管（J.2.1），发光管（J.1.2）受多路遥控组件发送电路（J.1.1）驱动，光敏管（J.2.1）联接至多路遥控组件接收电路（J.2.2）。