[发明专利]全息光检拾器

说明书

本发明涉及一种激光盘播放机的光检拾器，更具体地涉及一种将垂直腔面发射激光二极管用作光源以代替常用的边发射激光二极管的光检拾器，从而能改善光学系统的性能和提高生产率。

图1是一种常用全息光检拾器中光学系统装置的剖面图。这里将说明它的构造。

在衬底6上安装了一个用作光源的边发射激光二极管4和一个用于检测反射光束的光检测器5。一个全息元件3把由激光二极管4所偏振的光束加以衍射，同时物镜2将来自激光二极管的光束加以聚焦，从而能读取盘1上光道的信息。

图2是全息元件3和装有边发射激光二极管4和光检测器5的衬底6的放大剖面图。

参照图2，图中由座7支持的全息元件3和装有由罩8保护的边发射激光二极管4和光检测器5的衬底6是安装在同一光轴上的(对准后使全息元件和光源位于同一光轴上)。

如上所述所构造的激光盘播放机的光检拾器的工作原理如下。由光源4所产生的激光束通过全息元件3进入物镜2。进入物镜2的光束被聚焦到盘的光道上。

进入光道的光束根据光道上所录信息被反射回来，并进入全息元件3。带有信息的反射光束输入到全息元件3，并被衍射至光检测器5。光检测器5将盘上所录信息的信号、和衍射光束的聚焦和探测误差信号加以检测。

然而，当边发射激光二极管组合在半导体芯片上时，难于将发射光轴和光盘1对准。此外，光检测器5需要单独对准。因此，在大量生产时产量受到很大限制。

另外，边发射激光二极管发射出具有广阔像散特性的椭圆光束，因此向由光检测器5所检测到的探测误差传递了不正确的信息。其结果是，难于完成正确探测。还有，在通过光学系统时损失了很多光。因此，到达盘面的光量减少了很多，也就是说，效率降低了。

为克服上述问题，本发明的一个目的是提供一种光学检拾器，其中发射出像散性小的圆形光束，以减少光损失，同时光源和光检测器制做在同一个芯片上，因而将对准光学系统光轴的配置和装配过程合并为一个过程，使装配变得容易了。

为达到以上目的，提供了根据本发明的全息光检拾器，包括：一块包括垂直腔面发射激光二极管和光检测器的芯片，该激光二极管用作光源，并具有按顺序叠积而成的在衬底上的下反射层、下隔离层、激活层、上隔离层、和上反射层，该光检测器用于检测自盘上光道反射回来的光束，并在衬底上具有和垂直腔面发射激光二极管相同的叠层；一个用于将具有对应于录在盘光道上信息的信息的信息的反射光束加以衍射的全息元件；以及，一块用于将由垂直腔面发射激光二极管所产生并随后由全息元件所衍射的光束加以聚焦，以便于读取录在盘光道上信息的物镜。

在参照附图对一个最佳实施例进行详细描述后，本发明的上述目的和优点将更为明显，附图中有：

图1是常用全息光检拾器的光学系统配置的剖面图；

图2是在衬底上安装的全息元件，边发射激光二极管和光检测元件这一部分的放大的剖面图；

图3是全息元件检拾器的光学系统配置的剖面图，该光检拾器使用的元件中，根据本发明，垂直腔面发射激光二极管和检测器制造在一起；

图4是用于比较从边发射激光二极管射出光束和从垂直腔面发射激光二极管射出的光束的特性的图；

图5是用于显示制造在同一个元件上的垂直腔面发射激光二极管和检测器的相同结构的原理图；

图6是垂直腔面发射激光二极管(光检测器)的垂直剖面图；

图7是用于显示垂直腔面发射激光二极管的垂直晶体生长结构的图；以及

图8用于显示垂直腔面发射激光二极管中心区域的驻波强度分布。

下面将叙述根据本发明将垂直腔面发射激光二极管用作光源的光检拾器。

图3是全息光检拾器的光学系统配置的剖面图，该光检拾器使用的元件中，根据本发明，垂直腔面发射激光二极管和检测器制造在一起。这里，全息光检拾器的结构如下。

用作光源的垂直腔面发射激光二极管11和用于检测反射光束的光检测器10在一块衬底上形成，并结合在一起制成一块芯片9。垂直腔面发射激光二极管11和光检测器10具有相同结构。全息元件3将作为光源的垂直腔面发射激光二极管11所产生光束加以衍射，同时物镜2将全息元件3所衍射的光束加以聚焦，以便读取盘1光道上所录信息。

激光盘播放器的使用上述垂直腔面发射激光二极管11的光检拾器的工作原理如下。首先，由作为光源的垂直腔面发射二极管11所产生的具有很小像散性的激光束通过全息元件3进入物镜2。进入物镜2的光束聚焦后射向盘1的光道。