[发明专利]用于校正显示器件的装置和方法

说明书

本发明涉及一种用于显示器件，尤其是具有非易失存储器件的显示器件的显示校正系统和显示器件校正方法。

作为常规的显示器件，使用阴极射线管(CRT)器件、等离子气体显示器件、液晶显示器(LCD)等。最近，研制出一种LCD器件，更具体说是一种有源矩阵型LCD器件。

液晶材料(分子)在与分子轴平行方向上的介电常数不同于与分子轴垂直方向上的介电常数，LCD器件应用这一特性来显示通/断状态，亦即由调节光的传输量或散射量显示亮/暗状态。液晶材料一般包括扭曲向列(TN)液晶，超扭曲向列(STN)液晶，铁电液晶等。

在使用液晶的显示件中，有源矩阵型LCD器件具有优良的显示特性。如图2所示，在一个常规有源矩阵型LCD器件中，与源驱动器201相连的源线203至205以矩阵的形式和与栅驱动器202相连的栅线206至208组合，而且在其相交处设置薄膜晶体管(TFT)209至212。TFT的栅极与栅线206和208相连，TFT的源极与源线203至205相连，TFT的漏极与象素电极和记忆电容213至216相连。液晶217至220设置在象素电极之间。

图3A至3C表示了TFT的工作波形。将信号电压加到TFT的栅极和源极时，TFT导通，使得象素电极上的电压几乎与源极电压相同。当不将信号电压加到TFT的栅极时，TFT截止，保持象素电极上的电压直到TFT下次导通为止。

由于通过上述方式由象素电极将电压加到液晶上，所以能产生一个相对于邻接象素具有很少干扰和较大反差的LCD器件。

在上述的有源矩阵型LCD器件中，由于所需的TFT的数量与象素的数量对应，因而在衬底中形成的TFT单元会产生缺陷。如果有缺陷的TFT处于开路状态或短路状态，那么缺陷象素有一个所需的电压或缺陷象素上的电压是不稳定的，这样在板上缺陷象素呈现为一个点缺陷。也可通过改变TFT中的阈值和迁移率来改变加到象素电极上的电压，从而改变象素的亮度(灰度等级)。

为了解决上述问题，如图4所示，在具有栅线401和402以及源线403和404的一个象素部分中，为了获得冗余，对应一个象素电极407设置了许多的TFT405和406。也就是说，如果TFT406是一个有缺陷的单元，用激光器等的激光划割部分408划(切)去漏端以除去有缺陷的单元。

用图5所示的装置探测有缺陷的单元。在图5中，该装置包括栅线501和502，源线503和504，公用电极线505，TFT506至509，记忆电容510和511，开关512至515，放大器516和517，测量端518和519，以及电源520和521。将足以使TFT导通的电压加到栅线501和502上，栅线501和502通过开关512和513与待检查的单元相连，同时将所需的电压加到源线503和504上，源线503和504通过开关514和515与待检查的单元相连。接着，栅线上的电压设置为零电平，使TFT截止。

停止给源线施加电压，并搁置TFT一预定的时间。在此之后，再给栅线提供电压，然后测量源线上的电压。当TFT是正常状态时，由于记忆电容保持第一源电压，因而可测量在源线上的电压。在每一个TFT中的漏极和源极处于短路状态时，由于在搁置TFT的同时通过与源线相连的电阻在每一个TFT中放电，所以在测量过程中电压发生变化。进一步地，当TFT处于开路状态，即使将电压施加到栅线上，但电压并没有加到记忆电容上。此外，即使由于TFT的迁移率和阈值的变化使记忆电容不能充分充电，也能通过高精度的电压测量来分辨缺陷单元。

在如上所述的常规LCD器件以及该器件的校正方法中，存在着如下问题。虽然能校正象素TFT的缺陷，但不能校正由液晶材料的变化而引起的非均匀显示以及由磨损所导致的带非均匀性，这样LCD器件在许多情况下就变成一个有缺陷的产品。

通常，在操作者观看显示器件时，两个相互充分离开的象素，即使在一个象素与另一个象素之间的亮度(灰度等级)差为10％或更多，也不能分辨。然而，邻接的象素，即使亮度差为大约2％，也能相互分辨。因此，抑制邻接象素间的亮度变化是重要的。

LCD器件有一个增大显示部分(屏部分)尺寸的趋势。随着尺寸的增大，难以保持均匀显示，从而降低了LCD的成品率。而且，用个人计算机和工作台，由于操作者长时间地以较近的距离连续观看显示部分，不均匀显示令操作者讨厌而且操作者的工作效率下降，这是一个用户要求研究的课题。

本发明的目的就是要解决上述问题。在本发明中，液晶显示(LCD)器件包括一个用于存储象素校正内容的存储器件，并通过将由外部摄象机器件获得的校正内容存入存储器件进行校正，从而进行均匀显示。