[发明专利]单晶硅上大面积(100)取向的金刚石膜的生长方法无效

专利信息
申请号: 95119376.7 申请日: 1995-12-12
公开(公告)号: CN1039595C 公开(公告)日: 1998-08-26
发明(设计)人: 顾长志;金曾孙 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: C23C16/26 分类号: C23C16/26
代理公司: 吉林大学专利事务所 代理人: 王恩远
地址: 130023 *** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 单晶硅 大面积 100 取向 金刚石 生长 方法
【权利要求书】:

1.一种在单晶硅上大面积(100)取向金刚石膜的生长方法,以单晶硅为衬底,以H2、CH4为反应气体,采用微波制备金刚石膜技术,制备(100)取向金刚石膜,其特征在于,单晶硅衬底为任意解理面,并在金刚石粉中正反两面研磨形成均匀划痕;在制备中反应气体还包括有CO,三种反应气体的流量大小满足H2∶CH4∶CO=100∶(0.5~1.5)∶(3~6);衬底温度控制在870~890℃范围,压力控制在30~45torr范围,衬底旋转,转速控制在0.2~1转/分。

2.按照权利要求1所述的在单晶硅上大面积(100)取向金刚石膜的生长方法,其特征在于所说的对单晶硅衬底两面研磨形成的均匀划痕宽度和深度均小于10-5mm,所使用的金刚石粉粒度为1μm以下;单晶硅衬底的旋转转速均匀大小为1/3-2/3转/分。

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