[发明专利]用分布式传感器探测和/或测量物理量的方法

权利要求书

1.用分布式传感器探测和/或测量一个物理量在所述传感器的多个测量点处的变化的方法，所述传感器有一条光纤，光纤有一个传导大部分光波的光学芯，所述光学芯具有众多沿着所述光纤分布并各自位于一个所述测量点水平处的衍射光栅，所述衍射光栅在无应力作用的情况下具有基本相同的反射中心波长，

其特征在于，它包括下述步骤：

-从光纤的称为输入端的一端射入一个探测光信号，其波长接近所述的反射中心波长，

-确定随时间变化的反射光信号的功率，称为实测反射功率，

-将随时间变化的实测反射功率与所述物理量未发生变化时的随时间变化的反射功率，即空载反射功率，进行比较，

-当所述实测反射功率与所述空载反射功率不同时，则探测到所述物理量的变化。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，属于每个所述衍射光栅的反射波长带内的探测光信号的波长位于其所述衍射光栅的反射光谱基本呈线性的波长区间中。

3.根据权利要求1或2中任意一项所述的方法，其特征在于，一个物理量的变化的探测是通过计算每一时刻的实测反射功率与空载反射功率的比值，并将这个比值与一个预定的界限值比较而实现的。

4.根据权利要求1或2中任意一项所述的方法，其特征在于，每个探测信号由两个相继的光脉冲组成，一个脉冲的波长位于衍射光栅的反射光谱内并小于所述反射中心波长，另一个脉冲的波长也位于衍射光栅的反射光谱内但大于所述反射中心波长，物理量变化的探测是通过两个不同波长的光脉冲的实测反射功率之比来实现的。

5.根据权利要求1至3中任意一项所述的方法，其特征在于，为了测量所述物理量的变化，事先要进行标定，以便将所述实测反射功率的所有幅值与所述物理量的一个相应的幅值联系起来。

6.根据权利要求1至5中任意一项所述的方法，其特征在于，所述传感器的光学芯上有n个衍射光栅，n为完全大于50的整数，每个所述衍射光栅的最大反射系数在1/(20n)和1/(2n)之间。