[发明专利]包括磁光元件的扫描头和包括该扫描头的扫描装置在审
申请号: | 95190931.2 | 申请日: | 1995-09-13 |
公开(公告)号: | CN1135803A | 公开(公告)日: | 1996-11-13 |
发明(设计)人: | H·W·范凯斯德伦;J·J·M·卢伊格罗克 | 申请(专利权)人: | 菲利浦电子有限公司 |
主分类号: | G11B11/10 | 分类号: | G11B11/10 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 杨凯,张忠醒 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 包括 元件 扫描 装置 | ||
1.一种带有扫描头工作面的扫描头,该扫描头包括磁通控制元件和磁光元件,其特征在于,磁光元件被配置在在磁通控制元件之间伸展的空隙平面内。
2.如权利要求1所述的扫描头,其特征在于,至少一个磁通控制元件的一部分,即处在与磁光元件相对的部分,是光学透明的。
3.如权利要求1或2所述的扫描头,其特征在于,该磁光元件是和磁通控制元件密切接触的。
4.如权利要求1,2或3所述的扫描头,其特征在于,两个磁通控制元件和磁光元件邻接在扫描头工作面上。
5.如权利要求1,2或3所述的扫描头,其特征在于,两个磁通控制元件邻接在扫描头的工作面上,而且磁光元件处在距扫描头工作面一定距离处。
6.如权利要求5所述的扫描头,其特征在于,在扫描头工作面上邻接的磁通控制元件之一的一部分,即跨接在扫描头工作面和处在距该扫描头工作面一定距离处的磁光元件之间距离上的部分,所具有的形状是离开与扫描头工作面邻接的另一磁通控制元件凸起的。
7.如权利要求5所述的扫描头,其特征在于邻接在扫描头工作面上的两个磁通控制元件,仅在处于距此扫描头工作面一定距离处的磁光元件附近相互搭接。
8.如权利要求1,2或3所述的扫描头,其特征在于:两个磁通控制元件邻接在扫描头工作面上,空隙平面则伸展在邻接在扫描头工作面上的磁通控制元件(其作为一方)和处于距该扫描头工作面一定距离处的另一磁通控制元件(其作为另一方)之间,而且磁光元件被配置成与邻接在扫描头工作面的磁通控制元件之间的间隙相对。
9.如上述权利要求中任一权利要求所述的扫描头,其特征在于一绕组伸展在两个磁通控制元件之间。
10.一种包括如上述任一权利要求所述扫描头的扫描装置,进一步包括一光源、用以将该光源产生的偏振光束引向磁光元件的光路以及用以测量该光束在从磁光元件反射后所发生变化的检测器。
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