[发明专利]包装薄片折缝位置检测的方法和装置

权利要求书

1.一种检测移动的包装薄片(1；30；40)或类似物上的折缝(2；32；42)或类似的凸起物的方法，其特征为，该方法包括下列步骤：

从包装薄片(1；30；40)和折缝(2；32；42)上反射回来的光(5′)和从一条与反射光成一角度而投向薄片的光束(3′)所发出的光被至少一个光电检测器(5；37；46)接收而产生包装薄片和折缝的电信号或图像；

借助于从两个方向来的反射光而产生的两个电信号被结合在一起成为一个测量信号(12)，该信号被输入到电子信号处理器(17)内，与原先存储在处理器内的、代表一条参照折缝的参照信号比较；

当计算测量信号和参照信号的符合程度而得出的相关信号(13)达到一个最大值时一条折缝(2；32；42)便被指出。

2.按照权利要求1的检测横向折缝(2)位置的方法，其特征为，从包装薄片(1)上反射回来的光(5′)是从基本上垂直投向薄片的光束(3′)发出的并被两个光电检测器(5)从两个与折缝(2)成横向并与投射到薄片上的光束成一较大角度的方向上接收。

3.按照权利要求1的检测横向折缝(2)位置的方法，其特征为，从包装薄片(1)上反射回来的光是从两条与折缝成横向的光束上发出的并被一个基本上直接安排在折缝(2)上面的光电检测器接收，两条光束与包装薄片的法线成一较大的角度。

4.按照权利要求1的检测纵向折缝(32)位置的方法，其特征为，从包装薄片(30)上反射回来的光是从一条基本上垂直投向薄片的振动光束发出的并被两个光电检测器从两个与折缝(32)成横向并与投射到薄片上的光束成一较大角度的方向上接收。

5.按照权利要求1的检测纵向折缝(42)位置的方法，其特征为，从包装薄片(40)上反射回来的光是从两条与折缝成横向的光束(43A、43B)上发出的并被一个基本上直接安排在折缝(42)上面的光电检测器(46)接收，两条光束与包装薄片的法线成一较大的角度。

6.按照权利要求2的方法，其特征为，垂直投向薄片(2)的光束(3′)是由激光器(3)产生的并在薄片(1)的横向上成为长方形，并且在投射光束和每一条被光电检测器(5)接收的光束之间的角度大于30°。

7.按照权利要求1的方法，其特征为，测量信号(12)是由从两个光电检测器(5；37；40)发出的电信号的差及两个电信号的和之间的比率形成的。

8.按照权利要求1的方法，其特征为，测量信号(12)是以包装薄片(1；30；40)的某一输送长度为根据而取样的。

9.一种实现按照权利要求1的、在一移动的包装薄片(1；30；40)或类似物上检测折缝(2；32；42)或一类似凸起物位置的方法用的装置，其特征为，该装置具有：

至少一个光源(3；33)，以便将一光束(3′；43A；43B)投射到薄片(1；30；40)上；

至少一个光电检测器(5；37；46)，以便用来从两个与折缝成横向并与投向薄片的光束成一较大角度如60°的方向上接收从包装薄片上反射回来的光(5′)。

一个电子信号处理器(17)，在该处理器内将从光电检测器(5)发出的电测量信号(12)与器内原先存储并代表参照折缝的参照信号比较，并计算出相关信号，该相关信号指出测量信号和参照信号之间的符合程度，符合程度达到最大时就是出现折缝(2)的迹象。

10.按照权利要求9的检测横向折缝(2)位置的装置，其特征为，该装置具有：

一个光源(3)，以便用来将一条光束(3′)基本上垂直投向包装薄片(1)和

两个光电检测器(5)，以便用来接收从薄片上反射回来的光。

11.按照权利要求9的检测横向折缝(2)位置的装置，其特征为，该装置具有：

两个光源，以便用来将光束从两个与折缝(2)成横向的方向上投射到包装薄片(1)上，和

至少一个光电检测器，被安排为基本上直接在折缝的上面以便用来接收从薄片反射回来的光。

12.按照权利要求11的装置，其特征为，两个光源用高频交替输送光束以便被一共同的光电检测器接收。