[发明专利]根据稳态荧光寿命检测分析物

权利要求书

1.应用荧光寿命由给定的分析物淬灭的荧光试剂物质测定此分析物在一种粘性媒质中的浓度的方法，包括下述步骤：

(a)引入荧光寿命(τ)由给定分析物淬灭的荧光试剂物质至粘性媒质中，在该粘性媒质中，此荧光试剂分子自由进行布朗转动且此淬灭剂分析物的浓度有待确定；

(b)以能为荧光试剂物质强吸收的波长下的连续线偏振光照射上述媒质，产生出具有平行于和垂直于激励光偏振面的矢量分量的荧光；

(c)将来自上述被照射媒质发射的荧光分解成平行于和垂直于激励光偏振面的矢量分量；

(d)计算所照射的媒质在空间或时间中的荧光各向异性；以及

(e)应用使荧光各向异性与淬灭剂分析物浓度相关联的表现为方程形式的数学函数。

2.如权利要求1所述的应用荧光试剂物质的方法，它还包括选择下述方程的步骤： τ = τ 0 1 + K D [ Q ] - - - - ( 1 ) ]]>

式中〔Q〕是淬灭剂物质浓度，K_D是动态淬灭常数，而τ_o是不存在淬灭剂时的荧光寿命。

3.如权利要求1所述的应用荧光试剂物质的方法，它还包括选用下述方程的步骤： [ Q ] = A 0 - A ( 6 R ‾ τ 0 + 1 ) K D ( A - A 0 ) - - - - ( 2 ) ]]>

式中A为荧光各向异性，定义为 A = I 1 G - I ⊥ I 1 G + I ⊥ ]]>

其中I₁和I_是以其电矢量分别平行于和垂直于线偏振激发辐射矢量的荧光发射强度，G是用来校正在此平行和垂直平面内传输效率的经验校正系数，R是平均分子转动时间，以弧度/秒表示，A₀是不存在布朗转动时“冻结”态中的荧光各向异性，K_D是动态淬灭常数，τ₀是不存在淬灭剂时的荧光寿命，而〔Q〕是待测的淬灭剂的浓度。