[发明专利]检测金属产品表面上开口缺陷的方法和装置无效
申请号: | 95197941.8 | 申请日: | 1995-06-16 |
公开(公告)号: | CN1197511A | 公开(公告)日: | 1998-10-28 |
发明(设计)人: | M·勒普罗瓦斯特 | 申请(专利权)人: | 联合金属公司 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 崔幼平,林长安 |
地址: | 法国罗*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 金属产品 表面上 开口 缺陷 方法 装置 | ||
1.对于象连续铸造的未加工产品这样的金属产品表面(2)上的凹形缺陷(1)进行检测的方法,按照这种方法,使用非零的入射光对此平面进行照明,以便使这种缺陷显示出来,这种缺陷相对于此表面照度呈照度减弱的区域,此方法的特征在于:使用两束波长位于可见光区两端的平面光束(13,14)对此表面进行照明,这两束光位于基本与该表面(2)正交的同一平面(P)内,以便在该表面上产生唯一的光迹(T),这两束光相互倾斜,形成基本相等的入射角(i),使用该波长沿着与该表面正交的方向(18),沿该光迹测量照度,局部的照度锐减就显示缺陷。
2.按照权利要求1所述的方法,其特征在于:该波长位于650和670nm。
3.按照权利要求1或2中的一项所述的方法,其特征在于:入射角(i)在30°和60°之间。
4.按照权利要求1到3中的一项所述的方法,其特征在于:只是在产品行进期间进行相继的再次测量时,在该光迹上的同一位置发现有照度减少的情况下,才让这种检测有效。
5.按照权利要求1到4中的一项所述的方法,其特征在于:在代表沿该光迹上照度的信号(51)上,通过测量相应于该照度降低的信号(52)的宽度,来确定所检测缺陷的横向尺寸。
6.按照权利要求1到5中的一项所述的方法,其特征在于:把这种方法同时用于产品的多个面,每个面的光迹(T,T′)在给向上是错开的。
7.检测金属产品(3)的表面(2)上的凹形缺陷(1)的装置,其特征在于:它包含有两个发射平面光束(13,14)的光源(11,12),其波长预定在可见光波段的两端上,其发射的总方向(15,16)相汇交,配置的形式是两束光位于基本与产品行进的纵方向(F)相正交的同一平面(P)中;带包含有在位于该平面(P)中的对准方向(18)上,测量该光源对此表面照度的元件(17),此元件有一个滤光器(20),它对准该波长,该光源方向(15,16)相对于该对准方向(18)是对称的。
8.按照权利要求7所述的装置,其特征在于:该光源的方向和对准方向之间的夹角i在30°和60°之间。
9.按照权利要求7或8中的一项所述的装置,其特征在于:该波长在650和670nm之间。
10.按照权利要求7到10中的一项所述的装置,其特征在于:该光源(11,12)的激光二极管。
11.按照权利要求7到10中的一项所述的装置,其特征在于:测量照度的元件包含有一个具有线性网格光电二极管的摄像机(17);此装置包含一些对接受照明强度低于一预定阈值的相邻光电二极管进行计数的元件(21),标记这些光电二极管在该网格中位置的元件(22)和在产品上指示出所测量缺陷纵向位置的元件(23)。
12.对金属产品所有面上的缺陷进行整体检测的方法,其特征在于:这种方法在每个面上都包含有按照权利要求7到11所述的装置,这些装置在纵向上是错开的。
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