[实用新型]一种测试少子寿命的装置无效
申请号: | 95243479.2 | 申请日: | 1995-02-24 |
公开(公告)号: | CN2232586Y | 公开(公告)日: | 1996-08-07 |
发明(设计)人: | 王正秋;龚海梅;李言谨;方家熊;周宝庆;褚君浩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63 |
代理公司: | 上海华东专利事务所 | 代理人: | 高毓秋 |
地址: | 200083*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 少子 寿命 装置 | ||
1.一种测试少子寿命的装置,包括光源(6)、微波源(7)、微波接收器和低温杜瓦瓶(2),其特征在于:
a.杜瓦瓶(2)内具有供安装待测样品的样品架(201),在样品架(201)的前方置有窗口座(203),在窗口座(203)上装有供微波透入的窗口(204),窗口座(203)的一侧装有供安装光纤的光纤座(3),在窗口座(203)的另一侧设有观察窗口(205),在窗口座(203)与杜瓦瓶(2)本体接口间衬有密封环(202),杜瓦瓶(2)还具有多元探测的接线头;
b.光源(6)采用砷化镓发光二极管,经光学透镜组(5)会聚到光纤(4),光纤(4)通过光纤座(3)进入杜瓦瓶(2)内,将光传输到样品(1)上;
c.微波源(7)采用耿氏振荡器,紧接微波源(7)顺次配置供传输微波的隔离器(8)、衰减器(9)和环行器(10),紧接环行器(10)一路配置喇叭天线(12),以供微波由喇叭天线(12)辐射,经过窗口(204)到达样品(1)上,紧接环行器(10)另一路配置供检测微波反射功率的检波器(11)。
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