[发明专利]物质折射率的全反射测量方法与装置

权利要求书

1.一种利用全反射原理测量物质折射率的方法，其特征在于使用会聚光从折射率已知的光学材料中入射并聚焦到该光学材料与折射率待测的物质的分界面上，由反射光强度或反射率的空间分布的拐点确定发生全反射的临界角，进而计算出待测物质的折射率。

2.一种权利要求1中所述方法的装置，包括(1)光源；(2)透镜；(3)光阑；(4)一定形状的光学材料；(5)判断临界角的光探测器等，其特征在于使用了半圆柱透镜[3]作为待测物质[4]的载体，且线或点光源[1]经拄面透镜或凸透镜[2]所形成会聚光焦点位于半圆柱透镜的轴线上，由线阵电荷耦合器件(CCD)[6]接收分界面上反射光分布。

3.根据权利要求2中的装置，其特征在于光源使用了波长可调的单色或准单色光如单色仪、波长可调谐激光器[1]。

4.根据权利要求2中的装置，其特征在于可使用计算机[7]控制单色仪或波长可调谐激光器[1]和线阵电荷耦合器件(CCD)[6]并采集有关数据，直接给出物质的色散性质曲线。

5.根据权利要求2中的装置，其特征在于在测量浑浊的散射物质如生物组织的折射率时可在光探测器之前使用拄面透镜或凸透镜[2]和光阑[5]以挡去漫射光，提高信噪比。